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精密测量基础

零件孔径几何量测量与电火花成形打孔工艺的分析摘要:随着近现代工业的发展,生产活动中对于各种含孔零件的要求逐渐提高。本文结合总结了零件孔径测量的基本方法,并对采用游标卡尺进行内径测量是卡爪对测量结果的影响进行详细分析。此外,还对以电火花技术为基础的高速电火花小孔加工技术进行介绍。关键词:孔径 几何量测量 内刃爪 电火花成形引言制造技术是国民经济发展的支柱,世界上各个发达工业国经济上的竞争主要是制造技术的竞争。从工业生产发展的历史来看,机械制造水平的提高与精密测量技术的进步是密不可分的,精密测量技术是保证产品质量的重要手段,也是进行科学研究的重要基础。孔类零件和轴类零件相比,前者的测量要更困难些。其原因足测量器具活动空间受到限制,操作凋整不便,测量速度慢,特别是对于小孔,深孔或盲孔等难度更大。因此,对于一般孔以及特殊孔的测量和加工方式的了解是非常有必要的。零件内孔测量 按原理划分不同测量方法孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。对于孔的直径的测量,按测量结果获得方式,有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。按传感器与被测工件的接触方式可分为接触式测量和非接触式测量。下面就介绍常用的几种:机械式测量机械测量以机械传动的方式实现被测量的测量,常用的测量仪有游标卡尺、内径千分尺、内径百分表和千分表、内径测微仪等。这类测量仪的优点是结构简单、成本低廉,性能比较稳定,便于携带。缺点是通常要靠人工手动调整,目测结果,难以实现高精度的测量。此类测量仪器的不确定度大约为左右,适用于中等精度的孔径测量,是工厂车间使用较多的一种测量方法。光学量测量光学量仪在几何量测量领域里应用非常广泛,光学量仪顾名思义是采用光学法进行孔径的非接触测量,一般以线纹尺、光栅、激光干涉仪作为长度基准。光学法又包括光学投影放大、光学扫描、光散射法及光衍射法等。光学影像法是最基本的非接触式测量方法。用仪器目镜分划板上的刻线对被测孔的影像进行瞄准,即对被测轮廓的两边进行瞄准,并由仪器的测量装置读出读数,两次读数之差就足被测孔径值。对小孔,可采用双像法测量孔径。其测量极限误差一般为±3 p m。小孔径干涉仪是一种单触头接触式测量仪,其基本原理是应用接触式光波干涉法,将被测孔径与阶梯鼍块相比较后由干涉系统瞄准读数,所以它可获得较高的测量精度。采用这种方法测量时,应注意测头直径的选择和量块尺寸的确定。光学扫描法用的比较多的有激光扫描CCD成像法,量程可从几微米到几百毫米,但精度一般也都在微米数量级。以日本佳能的激光扫描测径系统CLTS为例,其测量量程在0.08mm至1 1 5mm,量程下限的测量精度为±0.3μm,分辨率为±0.1μm。量程上限的测量不确定度为±7μm,分辨率为±0.1μm,而美国ZYGO公司研制了量程为50mm,量程上限不确定度达到±0.25μm的激光扫描测径系统。电动量测量电动量仪是指把被测量转换成电信号再进行侧量的几何量测量的仪器。能用于测径的主要有电动测微仪和圆度仪。电子测微仪可以分为电感式、电容式、电接触式、光电式。目前电感、电容测微仪应用比较多,虽然电感、电容测微仪在测量精度和抗干扰能力上较以前己经有了很大的提高,但还是存在测量精度易受材料性质和外界干扰等问题。国防科大研制成功的电容三点法测量仪,在采用误差补偿和误差分离技术后,工件直径的测量不确定度达到了±0.8μm/100mm。圆度仪是测量被测孔横截面的圆形轮廓,然后通过最小二乘法等拟合算法来得到直径值。测量时,传感器测头与被测件孔表面接触,并随主轴一起绕被测件回转,被测表面偏离理想圆的起伏变化转换为电信号。缺点是存在主轴回转误差、接触力引起的弹性变形误差。直径测量不确定度达到±0.2μm。气动量测量用气动法测量孔径时,主要是气动塞规法,基本原理足将气动塞规测量头插入被测孔内,当气流通过气动塞规的喷嘴流经塞规和被测小孔之间的间隙时,因孔径的变化,会引起气体压力或流量的变化,通过测量压力和流量值的变化即可测出被测孔径的大小。这种方法精度可达1μm甚至更高[1][2]。现今,国内外出现了数字式气动量仪,能够实现更加简便、精确的测量。其他新技术应用于孔径测量国外把数字图像技术应用于几何量精密测量的技术己经较为成熟,如英国Taylor-Hobson、德国Mahr、美国OGP等公司己经生产出系列化的具有CCD测头的非接触测量机,这类测量机都是通过适当的光学成像技术结合计算机图像处理技术,从而在几何测量中可达到较高的测量精度。运用图像处理技术进行测量就是在测量时把被测对象的图像当作检测和传递信息的手段或载体,其测量用的测头实际是一个CCD摄像机,图像处理的目的是从获取的图像中提取有用的信号,分析计算出最终我们期望得到的被测几何参数。北京航天航空大学张广军课题组完成的基于机器视觉的小型构件内(5-20mm范围的通孔

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