提高玻璃封装二极管可靠性的研究 study on the reliability increasing of glass diode.pdfVIP

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2017-08-22 发布于上海
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提高玻璃封装二极管可靠性的研究 study on the reliability increasing of glass diode

C栏olumn步伊技Tech术nolog专y 提高玻璃封装二极管可靠性的研究韩文爵1，一，王海风1，一，罗春炼1，一，田海兵l2 (1．东华大学材料科学与工程学院，上海200051； 2．先进玻璃制造技术教育部工程研究中心，上海200051) 功率二极管玻璃封装工艺流程实验和二极管的理化性能考核，引人适当含量的超细Zr02能提高玻璃封装二极管的抗热冲击性。关键词：二极管；超细氧化锆；ZnO．B203．Si02；微晶玻璃；增韧；可靠，巨中图分类号：TN305．95文献标识码：A onthe ofGlassDiode Study ReliabilityIncreasing Han Chunlianl，-，Tian Wenjuel，一，WangHaifen91．一，Luo Haibin91’2 MaterialsScienceand (1．Collegeof Engineering，DonghuaUniversity，S舰彬200051，Ch／na； ResearchCenter 2．Engineering ofAdvanced‰ManufaauangTechnology。Ministryof 200051，Ch／na) Education，Shanghai of wasusedtoincreasethe Abstract：Phrase in changingZr02ZnO-B203-Si02systemglass·ceramics mixed ofthe and the the Was gl剐蜩diode experimentsuperfineZr02 flexibility improvereliability酗well．In with andsinteredat to thenew evenlyZnO—Be03一Si02systemgla8s-ceramicspowder hishtemperatureget glass— ceramics．neofthe wasstudiedAKASHI markmethod．ne flexibilityglass—ceramics by pressing typical in results of and a他 of WasstudiedwitllXRD．r11leshow Zr02gla髂diode typical t-Zr02m-Zr02 phase