基于折叠方法数据压缩方法实现.docVIP

基于折叠方法数据压缩方法实现摘要:该文提出了一种基于折叠关系压缩方案，该方案是利用折叠技术,将SOC芯片中芯核的测试数据整体进行折叠关系的判断,并且能够根据是否存在折叠关系把原测试数据分为两段,在此基础之上并分别对有折叠关系的测试数据进行折叠压缩，对没有折叠关系的测试数据使用相容压缩。目前，减少测试应用时间和测试数据容量是测试领域的努力方向。该文提出的这种方法可以有效的减少存储容量和降低测试时间从而有效的降低了测试成本。与类似的纯编码压缩方法相比，如：Golomb码，统计码，基于字典的编码等压缩方法，其压缩效果更为显著。 关键词：内建自测试；折叠计数器；测试数据压缩；相容压缩 中图分类号：TP311文献标识码：A文章编号：1009-3044(2012)15-3494-03 Data Compression Method Realization Based on the Folding Method FAN Hai-bo （Anhui Nari Jiyuan Software CO.,LTD., Hefei 230088, China） Abstract：In this paper, a relationship based on folding compression programme, which is to use folding technology, SMIC chip SOC nu clear test data to the overall collapse of relations between the judgement and can collapse under the existence of relations between the origi nal test data is divided into two sections, On this basis and were to have folded the fold test data compression, in order to obtain a higher compression ratio, the collapse did not use the compatibility test data compression. At present, to reduce test application time and test data capacity is to test the field of direction. The proposed this approach can effectively reduce the storage capacity and reduced testing time, thus effectively reducing the cost of test. And a similar-encoding method, such as: Golomb code, code statistics, based on the coding dic tionaries, such as compression method, the compression effect more significant. Key words: BIST(built-inself-test);folding counter;testing data compression;compatible compression 随着芯片集成度的提高，大量的知识产权（IP）核被用于系统芯片（SOC）的设计，这导致了测试数据量和测试时间的快速增加，以及测试芯核难以进入。它使得传统的离线测试越来越不适应IC的发展。 最近提出的一些有效的压缩和解压方法主要有以下几类：一类是将预先计算的测试集TD分成固定长度的b位块，将这些定长位块作为研究的对象。例如，统计码就是统计这些定长位块在测试集中出现的频率，并用哈夫曼码编码这些定长位块。考虑到长度为b的位块可能出现的组合情况有2种，若用全哈夫曼码进行编码，码树庞大，相应的硬件开销就会非常巨大，所以统计码（又称有选择的哈夫曼码）仅对频率出现最高的几个位块进行编码，用小于b位的码字代替它们，其余块不变。另一类方法是用特征位的长度代替特征位本身，通过对长度值进行编码来达到压缩的目的。这种方法基于对测试集特征的观察，即测试集的测试模式之间不同位（变化位）较少，通过测试模式之间的异或运算，形成一个差分向量序列，序列中的连续“0”很多，通过编码连续“0”序列的长度，可以有效地压缩测试数据，在解压时，使用一个循环扫描移位寄存器（CSR）就可以还原出原测试集。 1相