直流磁控溅射znoal薄膜过程中氧气浓度的研究 the effect of oxygen concentration to dc magnetron sputtering znoal films.pdfVIP
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直流磁控溅射znoal薄膜过程中氧气浓度的研究 the effect of oxygen concentration to dc magnetron sputtering znoal films
V01.33
第33卷第1期 电子器件 No.1
Chinese ofElectron
2010年2月 Joumal Devices Feb.2010
TheEffectof ConcentrationtoDC ZnO:AIFilms‘
Oxygen MagnetronSputtering
WEl
Xinying,QIKangcheng’,YUANHongmei。ZHANGLiangyan
(School Scienceand
ofOpto-electronicInformation,UniversityofElectronic TechnologyofChina,Chengdu610054。Ch/na)
was the
Abstract:The directcurrent method.Andthe
ZnO:AI(ZAO)filmspreparedby magnetronsputtering
effectof concentrationtothestructureand ofZAOfilmhasbeenstudied.Theresults
oxygen photoelectricproperties
indicatethat
the concentrationisthe factorof ZAOfilm
properoxygen key preparinghighquality
ZAOfilmfabricatedon conditionsinthis showsa lowest of
particular c—axis—orientation.a
paper good resistivity
3.67×10—4Q·cmandan visibletransmittanceabove90%.
average light
Keywords:DC
magnetronsputtering;ZAOfilm;oxygen
EEACC:0520
直流磁控溅射ZnO:A1薄膜过程中氧气浓度的研究木
韦新颖,祁康成+,袁红梅,张良燕
(电子科技大学光电信息学院,成都610054)
实验表明适当的氧气浓度是制备优质ZAO透明导电薄膜的关键。本实验条件下制备的ZAO薄膜最低电阻率为3.67×10。4
Q·cm,可见光部分透过率高于90%。
关键词:直流磁控溅射;ZAO薄膜;电阻率;透过率
中图分类号:TB303 文献标识码:A
ZnO:Al(ZAO)是通过Al替位式取代ZnO结构同氧气浓度条件下ZAO薄膜的结构及光电性质。
中的Zn而形成的一种透明导电氧化物薄膜(TCO)。
1 实验
其光电性质与ITO相当;制备原材料廉价、丰富,制
备过程不会产生污染性物质;稳定性好,尤其在氢等 采用直流反应溅射的方法,制备ZAO薄膜,锌铝
离子环境中。可广泛用作太阳能电池、平板显示器、 合金为靶材(含铝质量分数2%),氩气(99.999%)
发光二极管等光电器件中的透明电极。因此,ZAO 为
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