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SHEN ZHEN TOP GUOWEI ELECTRONICS CO., LTD 文件名稱: 作業指導書 PRE.BY:謝志東 DOC NO.: IQC-I-001 : E 內 容: 天　　　線 APP.BY:陳發 : MAY.21.2003 PAGE: 1 OF 1 適合範圍: 各種金屬拉桿天線和塑封天線 SAMPLING PLAN REFERENCE CRITICAL 0 MAJOR 0.40 CLASSIFICATION OF DEFECTS ISO2859-1:1989(E) MINOR 1.5 DEFECT LIST CR MA MI 1. 按抽樣標准抽足待檢料. 污 ( 2. 核實此料是否被認証 划痕, 凹, ( ( 查有無該P/N之SAMPLE,APPROVED FORM和SPEC. 電鍍不良 ( ( 供應商是否與APP.一致,來料數量是否符合APP. 生 鏽 ( 3. 外觀檢查 帽 裂, 破損 ( 檢查天線有無帽裂,污,松,划痕,破損,凹點等不良現象; 尺寸不符 ( 檢查天線有無生鏽,電鍍不良等不良現象. 滑 牙 ( 4. 尺寸檢查 松 ( 根據SAMPLE和圖紙,檢查來料各尺寸是否符合要求.. 露銅/斷 ( 5. 可靠性實驗 以上僅供參考具體請參照“總.包裝料外觀檢測標准” 根據SPEC要求,測試其扭力,耐彎曲性能等指標是否符合要求(參考值). TOOLING EQUIPMENT LIST 如果是帶螺紋天線,則應取與其配套的支架試其螺紋是否能相配合. NAME QTY 以正常力度拉出/縮入天線5次,看其銅管各節有無露銅,拉斷等現象. 卡尺/直尺 1 扭力計 1  SHEN ZHEN TOP GUOWEI ELECTRONICS CO., LTD 文件名稱: 作業指導書 PRE.BY:謝志東 DOC NO.: IQC-I-002 : D 內 容: 排　　線 APP.BY:陳發 : MAR.12.2003 PAGE: 1 OF 1 適合範圍: 各種PCB之間的連接線 SAMPLING PLAN REFERENCE CRITICAL 0 MAJOR 0.40 CLASSIFICATION OF DEFECTS ISO2859-1:1989(E) MINOR 1.5 DEFECT LIST CR MA MI 1. 按抽樣標准抽足待檢料. 尺寸不符 ( 2 核實此料是否被認証 顏色不符 ( 查有無該P/N之SAMPLE, APPROVED FORM; 線頭氧化 ( 查來料數量及供應商是否與APP. 相符. 導電性不良 ( 3. 外觀檢查 爛 ( 檢查排線有無臟污,破爛,氧化等現象. 臟 ( 檢查排線外形,顏色,線數是否與樣板一致,有無變形. 4 尺寸檢查 以上僅供參考具體請參照“總.包裝料外觀檢測標准” 根據SAMPLE和圖紙,檢查來料各尺寸是否符合要求. TOOLING EQUIPMENT LIST 5. 電氣性能檢查 NAME QTY 用萬用表測量排線的導電性是否良好. 卡尺/直尺 1 萬用表 1 SHEN ZHEN TOP GUOWEI ELECTRONICS CO., LTD 文件名稱: 作業指導書 PRE.BY:謝志東 DOC NO.: IQC-I-003 : D 內 容: 連 接 線 APP.BY:陳發 : MAR.12.2003 PAGE: 1 OF 1 適合範圍: 各種連接線 SAMPLING PLAN REFERENCE CRITICAL 0 MAJOR 0.40 CLASSIFICATION OF DEFECTS ISO2859-1:1989(E) MINOR 1.5 DEFECT LIST CR MA MI 露銅 ( 1. 按抽樣標准抽足待檢料. 線頭氧化 ( 2. 核實此料是否被認証 線破爛 ( 查有無