基于分子印迹敏感膜和白光反射干涉的残留药物检测技术.pdf

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基于分子印迹敏感膜和白光反射干涉的残留药物检测技术

, 2011, 13( 1) : 122- 128 Journal of Agricu ltural Science and Technology 1 1, 2 1 1, 2 1, 2 刘秋明, 王永向 , 丁 艳 , 戎 非 , 付德刚 ( 1. , 21009 ; 2. , 215123) : , ( RIfS) , , ( PS) , ( CAP) RIfS, CAP, 0. 229 1 mm ol/L0. 185 2 mm ol/L, ( ) CAP, , 91% , (H PLC) , RIfS : ; ; ; ; doi: 10. 39 9/ .j issn. 100808 4. 2011. 01. 20 : O 57. 3 : A : 100808 4( 2011) DrugResidueDetecting Technology Based on Combing Molecular Imprinted Polymer Film with Reflectometric Interference Spectroscopy 1 1, 2 1 1, 2 1, 2 LIU Q ium ing, WANG Yongxiang , D ING Y an , RONG Fei , FU Degang ( 1. State Key Laboratory of Bioelectronics, Southeast University, Nanjing 21009 ; 2. Suzhou Key Laboratory ofEnvironm ent and Biosafety, Jiangsu Suzhou 215123, China) bstract: To m easure op tical th ickness of a m olecularly mi printed polym er film whose surface w as not smooth w ith porous structure, a ladderm odel forR IfS ( reflectometric interference spectroscopy) w as estab lished, and a computer program for fu llspectrum fitting of RIfS spectraw asw ritten based on dam ped least squarem ethod. Then the optical thickness of am onolayer or b ilayer film could be obtained by fitting the expermi en tal spectrum data. Sensitive film s w ere fabricated by spin coating them ixtu re of CAP ( ch loram phenicol) mi printed nanospheres and polystyrene (PS) onto glasses and silicon w afers, respectively. Linear relationships bewt een variance of film optical th ickness and concentrations of CAP in solu

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