x射线吸收精细结构光谱在土壤中的应用土壤学报.pdf

第 45 卷 第 1 期 土 　壤 　学 　报 Vol45 ,No1 2008 年 1 月 ACTA PEDOLOGICA SINICA 　J an . ,2008 X 射线吸收精细结构光谱在土壤中的应用 1 1 1 1 ,2 2 周世伟 　马义兵 　徐明岗 　罗 　磊 　张淑贞 ( 1 中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 ,北京 　100081) (2 中国科学院生态环境研究中心 ,北京 　100085) ( ) 摘 　要 　　由于 X 射线吸收精细结构 Xray absorption fine structure , XAFS 可以原位探测吸收原子的2～3 个邻近配位壳层 ,获得 目标元素的电子结构信息和化学结构信息 ,所以 XAFS 已成为微观领域最重要的结构 分析工具 ,丰富了我们对元素的重要化学性质和反应过程的认识 。本文简述了 XAFS 的基本原理 ,探讨了样 品制备 、测试及数据分析等过程需关注的问题 ,重点综述了应用 XAFS 研究土壤重金属和营养元素的形态 、土 壤固 - 液界面的反应过程和机理 ,并指出其应用的局限性和未来发展的前景 , 旨在推动我国 XAFS 在土壤科 学中的应用 。由于土壤中界面反应的复杂性 ,XAFS 应结合其他结构分析技术 ,结构分析技术应结合宏观数据 和计算机模拟 ,土壤学应与其他学科交叉 、融合 ,只有这样 ,才有可能在时间和空间尺度上阐明土壤组分在环 境界面上的复杂反应过程和机理 。 ( ) 关键词 　　X 射线吸收精细结构 XAFS ;元素形态 ;界面反应 ;土壤 中图分类号 　　S1533 　　　　文献标识码 　　A 　　阐明土壤无机 、有机及微生物组分在环境界面 可以调节 X 射线的能量 ,对不同元素的原子周围环 上的反应 ,包括污染物在土壤中的形态 、营养元素的 境分别进行研究 ; ③利用强 X 射线或荧光探测技术 循环及其对全球气候变化的影响 ,准确预测污染物 可以测量几个 mg kg - 1 浓度的样品; ④EXAFS 可用 在环境中的速率 、转化及归宿等 , 已成为土壤学尤其 于测量固体 、液体 、气体样品 , 一般不需要高真空 , 是环境土壤学的研究前沿[ 1 , 2 ] 。随着分析技术的提 不损坏样品[4 ] 。所 以, XAFS 作为一种实用的结构 高 ,一些基于同步辐射光源的分析手段可以使人们 分析方法 ,备受人们的青睐 ,在材料 、化学 、生物 、环 在分子 、原子水平上研究反应机理 。毋庸置疑 ,它已 境等多个领域被普遍应用 ,一度在世界各地的同步 成为近十多年土壤环境学的主要发展方向 ,导致一 辐射装置上 , XAFS 实验站 曾占到全部实验站 的 门新的学科 ———分子环境土壤学的诞生[ 1～3 ] 。 1/