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材料表征ppt重点
XRD:X射线衍射(X-ray diffraction) TEM:透射电子显微镜(Transmission electron microscope ) SEM:扫描电子显微镜(scanning electron microscope) AFM:原子力显微镜(Atomic ForceMicroscope ) STM:扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope ) IR:红外线(Infra-red) UV:紫外线(ultraviolet ) TG(TGA):热重分析((Thermogravimetric Analysis ) XPS:x光电子谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy ) LEED:低能量电子衍射 (Low Energy Electron Diffraction) EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy) AES:俄歇电子能谱(Auger Electron Spectroscopy) ESC:化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) SPM:扫描探针显微镜(scanning probe microscope ) 条件 1. 产生自由电子---电子源,如加热钨丝产生热电子 2. 使电子作定向的高速运动 --- 施加在阳极和阴极(钨丝)间的电压 3. 在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减速或停止。 4. 真空---把阴极和阳极密封在真空度高于10-3Pa 的真空中,保持两极洁净并使加速电子无阻地撞击到阳极靶上。 封闭式X射线管实质上就是一个大的真空 二极管。基本组成包括: (1)阴极:阴极是发射电子的地方。 (2)阳极:靶,是使电子突然减速和发射X射线的地方。 (3)窗口:窗口是X射线从阳极靶向外射出的地方。 (4)焦点:焦点是指阳极靶面被电子束轰击的地方,正是从这块面积上发射出X射线。 连续X射线 具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱,它和可见光相似,亦称多色X射线。 能量为eV的电子与阳极靶的原子碰撞时,电子失去自己的能量,其中部分以光子的形式辐射,碰撞一次产生一个能量为hv的光子,这样的光子流即为X射线。 单位时间内到达阳极靶面的电子数目是很多的,绝大多数电子要经历多次碰撞,逐渐地损耗自身的能力,即产生多次辐射,由于多次辐射中光子的能量不同,因此出现连续X射线谱。 X射线的强度 X射线的强度是指在单位时间内通过垂直于X射线传播方向的单位面积上光子数目(能量)的总和。 常用单位是J/cm2.s. X射线的强度I是由光子能量hν和它的数目n两个因素决定的,即I=nhν,连续X射线强度最大值在1.5λ0,而不在λ0处。 连续X射线谱中每条曲线下的面积表示连续X射线的总强度,也是阳极靶发射出的X射线的总能量。 实验证明,I与管电流、管电压、阳极靶的原子序数存在如下关系: 且X射线管的效率为: 特征X射线 是在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线,它和可见光中的单色相似,亦称单色X射线。 特征X射线的特性 激发管电压特征:每一条谱线对应一定的激发电压,只有当管电压超过激发电压时才能产生相应的特征谱线,且靶材原子序数越大其激发电压越高。当电压达到临界电压时,特征谱线的波长不再变,强度随电压增加。 强度特征:每个特征射线都对应一个特定的波长,不同靶材的特征谱波长不同。如管电流和管电压V的增加只能增强特征X射线的强度,而不改变波长。 同系(例如K?1、L?1等)特征X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,是物质的固有特性。 产生机理 特征X射线谱的产生机理与阳极物质的原子内部结构紧密相关的。 原子系统内的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。 在电子轰击阳极的过程中,当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时,于是在低能级上出现空位,系统能量升高,处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁,并以光子的形式辐射出标识X射线谱。 当K系电子被激发时,原子的系统能量便由基态升高到K激发态,即K系激发。同样,L系,电子被激发,称为L系激发,依此类推。 当K层电子出现空位,其被高能级电子填充时产生K系辐射。具体地,当K层空位被L层电子填充时,产生K?辐射,而被M层电子填充时,产生K?辐射。同样,电子从高能态填充到L时产生的辐射为L系辐射,依此类推。 K系激发机理 K层电子被击出时,原子系统能量由基态升到K激发态,高能级电子向K层空位填充时产生K系辐射。L层电子填充空位时,产生Kα辐射;M层电子填充空位时产生Kβ辐射。
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