iec相关tc及sc批准立项的新工作项目(2009年1～7月).pdfVIP

I (2009年1～7月) iii：-E譬 0 曩，峨 ；i l 州。澎j。 舞甥謦黟_ ．。| _、|¨『l删一 ∥皇 g i蒸i誓≤篓鏊塑裁定塞碧黪囊篓鬻薯 ，‘+ 耨毒翻唪鬻黼 ≥萋耋；攀釜I粪萋鋈鐾篓j≮；蔫辫黪豢童≥基j。鬻誊攀蕤囊霪攀鬓 一√≈…。ij”j i ■．。“+：}}{∞¨tii。 曩靠j÷薹；㈦—娜}；：Ij蠹鬃喾0 |：|一i曩薯一：篓誊※誊舞舞警誊蔓糍黧糍棼j otFrench IEC621 Proposal NC：(Future32—6)：Integrated集成电路电磁抗扰度测量第6 1 47A／813／NPSC47Acircuits-MeasurementotelectromagneticimmunIty 部分：局部插入喇叭天线 Horn —Part6：LocallnlectlonAntenna(LIHA)method(uHA)方法 FutureIEO62215—3：Integratedcircuits—Measurement 集成电路冲击电压抗扰性的测量 2 47A／815／NPSC47AofImpulselmmunIty～Part3：Non-synchronoustransient 第3部分：非同步瞬间插入法 method Injection IEC62047-1 ProposalofJapaReseNC：(Future 2)： 半导体器件微电机系统第12 Semiconductordevlces—Micro-electromechanicaIdevices 3 6／NPSC47F 47F／1 部分：MEMS结构用薄膜材料 1 methodfor thinfIIm —Part2二A fatiguetesting 共振疲劳测试方法 ofa structure materialsusingtheresonantvibrationMEMS Future1EC62047—10：SemIconductordBylces—Mlcro 半导体器件微电