第六章 实际晶体中缺陷的电子衍射分析.pptxVIP

第六章 实际晶体中缺陷的电子衍射分析;晶体中存在一个刃型位错⊥ 其晶面与布拉格条件的偏离 参量为So0。位错线附近的 晶面畸变引入额外的附加偏 差S’。;位错并不是几何意义上的线，而是在位错线附近有应变区，使晶体发生微区畸变，在一定方位下体现衍射衬度。 位错线像的特点：位错线总是出现在它实际位置的一侧或另一侧，说明其衬度本质上是由位错附近的点阵畸变所产生的，又叫“应变场衬度”。 ;6.1位错 Burgers（柏氏或者布氏）矢量b的测定;R是晶格位移（畸变）矢量，一般R是位置的函数，即位错附近不同位置对完整晶体点阵的影响不同。对特定的一类位错，其Burgers矢量b是唯一的，将R与位错矢量b等同起来是一种合理的近似。;刃位错：b⊥u 螺位错：b//u，b×u=0 根据缺陷不可见判据： R⊥g，g·R=0，可得出位错消像判据：;Ni3Al合金(001)面上的位错;位错 Burgers矢量b测定的实际操作;选取满足g?b=0的反射g操作步骤：;;区分位错线和等倾条纹的方法：倾动试样时，位错衬度只在原地变化，或隐或现或弱，而不会移动位置；等倾条纹随着各处位向连续变化，在荧光屏上可观察到其迅速扫动。;6.1.2 位错密度测定;6.1.3 Burgers矢量测量举例;从表11-2可以判断A、B可能是螺位错，C可能是刃位错分量较强的混合位错。要具体确定C位错的类型还需要做一些工作，书中通过倾转样品得出C为u=[2-41]混合位错;6.1.4 位错空间取向的L-W测定方法;图11-2是从Ti-48Al-0.15Si合金获得的衍射照片。从图(e)(f)得 ;例2：Al中的位错分析如表11-3所示;6.2 位错衬度分析;g?b=n x为观察点相对于位错核心且垂直于位错线的坐标值 β=2πsx;6.2.1 位错偶和超点阵位错;和位错双像不同，位错偶和超点阵位错是真实存在的两根位错。 位错偶：分别位于相邻两平行滑移面上的符号相反的两根位错。在TEM像中，改变g或s的符号，位错像间距将缩小或增大，波浪状振荡点状衬度峰将由“相向”变成“相背”或者反过来。 超点阵位错：位于同一滑移面上且Burgers矢量相同的两平行位错。在TEM像中，改变g或s的符号，位错像间距不变，波浪状振荡峰同时反向。;;6.2.2 位错环分析;位错心;位错环的衬度特点：由于位错环只有一个b，但是在不同部位各处b的刃位错分量不同。在适当的g反射下，有些部分满足g·b=0，从而位错环在此处中断。如图26.11所示。;含有层错直径较大的位错环。在适当的条件下，环中的层错可显示清晰的条纹衬度，如图26.10所示；而小的位错环会根据所在位置的不同其尺寸和衬度都会变化，如图26.12所示;6.2.3 位错塞积;;式中，ρs为表观位错密度；ρt为单个滑移面平均位错密度；N为相互平行的滑移面个数。;6.2.4 位错网;六角晶系的全位错网一般表现为三角形，当位错分布不均匀是会体现多边形;6.2.5 角面位错（lomer cottrell dislocation)(L-C位错）;FCC晶体的扩展位错;螺旋状位错是指其外貌呈螺旋式旋转运行扩展的位错，并非指通常意义上的螺位错。普通位错形成这种螺旋状曲线是交滑移的结果。;6.3 全位错的分解和层错及其衬度;（1）层错是同一晶体结构中的一种面缺陷，其两侧仍完整晶体。层错条纹衬度的来源是电子穿过层错区时，层错提供了α=2πg·RF的相位变化，其中RF是层错矢量（与Burgers矢量相当）。当g·RF=0时，层错条纹衬度消失。;(a)A-A条纹衬度位层错，B-B位孪晶界厚度条纹，P及界面处其它白色线条为界面位错； (b)和(c)是对(a)图中L、T处重叠层错衬度分析； (d)重叠层错的几种情况。;(a);;???展位错衬度相位因子α=2πg·RF和α=2πg·bp的探讨;A 切变滑移型层错及不全位错分析举例。;例子2：;B 插入型和抽出型层错分析。;;C 层错衬度特征与上下表面对应关系;D 重叠层错衬度;（3）两重叠层错性质不同时，重叠部分的相位角为0，层错条纹消失。;;6.4 弱束成像(Weak-Beam Dark-Field Microscopy, WBDF）;6.4.1 弱束成像原理;采用衍衬运动学理论解析弱束成像时需对衍衬方程进行修正，修正后的衍射衬度方程为： ;6.4.2 弱束成像的实验步骤;6.4.3 弱束成像技术的应用;（2）提高位错线的衬度、减小位错像的宽度;（2）获得位错分解过程的精细像;FIGURE 27.20. Four WB images showing an array of dislocation dipoles in a Cu alloy having a low stacking-fault energy. The reflect