商务版：颗粉分析仪.pdfVIP

美国贝霓誊 一 ；毒≥ 0 链}爱囊 j≯ ： 囊 ， 动态粒度粒形分析仪 (QICPIC) 为了克服现有图像分析 仪存在的样品量少、测试结 果的代表性和统计性差，分 析速度慢等缺点，德国新帕 泰克公司研发并制造出了世 界上第一台能对大量快速移 动颗粒直接进行粒度大小和 中，专利V,J／I,~冲光源产生稳 粒形分析的粒度粒形分析 定可见的高频脉冲光，曝光 型的具有极宽动态测量范围 的测量要求。ZETA电位样 仪一QICPIC(QuickPicture)。 时间 Ins(即脉冲频率约为 的多用途的测量仪。 品浓度动态范围达4个数量 QICP1C的技术要点： 109次／s)，即使是运动速度 该产品不但拥有独家的 级 (0．00l％～40％)。特殊样 爨专利的光路设计，成 高达 100m／s的颗粒，也能 固体表面Zeta电位分析功 品不再需要预先稀释即可直 像大小同物距无关。德国新 够得到清晰的图像，不会产 能，同时拥有独一无二的可 接测量。 帕泰克公司采用了专乖lJ的光 生虚像。QICPIC粒度粒形 进行高浓度样品的Zeta电位 仪器同时备有丰富的可 路设计，即在采用最小光圈 分析仪还采用了数码成像领 测量功能。Delsa Nano系列 选件，如高浓度样品池、标 的情况下保证也能得到高对 域内最新技术的CMOS高速 为目前功能最强大的Zeta电 准样品池、一次性样品池、 比度的清晰图像。孔径光阑 摄像系统，每秒内拍摄最高 位纳米粒度分析仪。 微量样品池以及PH滴定装 仅阻挡散乱光线，对被照射 达500幅图像，像素为1024 最小可测量粒径低至 置等。Delsa Nano为纳米技 颗粒的背景光的强弱没有任 ×l024(10×l0m)，灰度为 0．6nm。采用了高灵敏度测量 术研究的提供最新型的分析 何影响，而且成像大小同物 256(8 bit)。 技术的Delsa Nano可同时满 工具。 距无关，保证同一个颗粒在 蹴良好的分散系统：保 足高浓度样品与极低浓度样 测试区域的任何部位都能够 证检测得到的是单个颗粒的 品的Zeta电位以及纳米粒度 得到相同大小的清晰图像。 粒度和粒形结果。 勰专利的脉冲光源，首 最新技术的数据传输 撮里最 f丰 仪蠢爱餐“ 公 Ii 次同高效的分散系统相结合 系统和工作站，实现对大量 A22 Nano Tee纳米型激光粒度仪 得到清晰的单个颗粒的图像。 数据的实时传输和处理。 德国Fritsch公司主要生 在QICPIC粒度粒形分析仪 镧阔豳 醴 露黧 豳 产实验室用研磨机、激光粒 度仪