第5次课测试装置对任意输入的响应、测试装置动态特性的测试.ppt

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第5次课测试装置对任意输入的响应、测试装置动态特性的测试

第7周课 2.4测试装置对任意输入的响应 2.5实现不失真测试的条件 2.6 测试系统动态特性测量方法 2.7 负载效应 2.8 测量系统的抗干扰 §2.5 实现不失真测量的条件 设有一个测试系统,其输出y(t)与输入x(t)满足关系 对y(t)=A0x(t-t0)做傅里叶变换,则有 考虑到测试装置的实际情况,当t0时,x(t)=0,y(t)=0,于是有 由此可见:若要测试装置的输出波形不失真,则其幅频特性和相频特性应分别满足条件: 不失真测试的相位条件证明 证明:若输入信号x(t)=E1sinw1t+E2sin2w1t经过幅频特性为A0的线性系统传输后, 其输出y(t)=A0 E1sin(w1t-φ1)+ A0 E2sin(2w1t- φ2) = A0 E1sinw1(t-φ1/w1)+ A0 E2sin2w1(t- φ2/2w1) 为了保证不产生相位失真,要求基波与二次谐波均具有相同的延迟时间t0,即φ1/w1= φ2/2w1=t0 当把频率作为变量看待时,φ(ω)=- ωt0 实际测量装置不可能在非常宽广的频率范围内都满足上式的要求,所以通常测量装置既会产生幅值失真,也会产生相位失真。 三、测试装置动态特性参数对不失真测试的影响 如果时间常数越小,则装置的响应越快,近于满足测试不失真条件的频带也越宽。 故一阶装置的时间常数,原则上越小越好。 一般来说,在ζ0.6~0.8时,可以获得较为合适的综合特性。 计算表明: 对二阶系统当ζ=0.707时,在 0~0. 58ωn的频率范围内,幅频特性 A(ω)的变化不超过 5%,同时相频特性φ(ω)也接近于直线,因而所产生的相位失真也很小。 2、对装置动态特性的测试: 方法:通过稳态正弦激励求系统的动态特性。 步骤: step1:对系统输入正弦激励信号 x(t)=Asin(2πft) step2:在系统达到稳态后测量输出和输入的幅值比和相位差。这样可以得到频率f下系统的传输特性。 step3:从系统的最低测量频率fmin到系统的最高测量频率fmax,按一定的增量方式逐步增加正弦激励信号频率f,记录各频率对应的幅值比和相位差, Step4:将各频率对应的幅值比和相位差绘制在图上,就可以得到系统的幅频和相频特性曲线。 2.7 负载效应 在实际测量工作中,测量系统和被测对象之间、测量系统内部各环节相互连接必然产生相互作用。 接入的测量装置,构成被测对象的负载;后接环节成为前面环节的负载。彼此间存在能量交换和相互影响,以致系统的传递函数不再是各组成环节传递函数的叠加(并联)或连乘(串联)。 现以简单的电阻传感器测量直流电路为例来看负载效应的影响。 R2是阻值随被测物理量变化的电阻传感器,通过测量直流电路将电阻变换转化为电压变化,通过电压表进行显示。 未接入电压表测量电路时,电阻R2上的电压降为 2.8 测量系统的抗干扰 在测量过程中,除了待测量信号外,还有各种不可见的、随机的信号可能出现在测量系统中。这些信号与有用信号叠加在一起,严重扭曲测量结果。因此,认识干扰信号,重视抗干扰设计是测试工作中不可忽视的问题。   测量系统的干扰源来自多方面。机械振动或冲击会对测试系统(尤其是传感器)产生严重的干扰;光线会对测量装置中的半导体元件产生干扰;温度的变化会导致电路参数和工作点的变化,产生干扰;此外,还有电磁的干扰等等。   干扰信号传入测量系统主要有三种传输途径,如下图所示 : 为了定量说明这种负载效应的影响程度, 令R1=100KΩ、R2=150KΩ、Rm=150KΩ ,E=150V,带入上式计算,得到U0=90V,U1=64.3V,误差达到28.6%。 若将电压表测量电路负载电阻Rm加大到1MΩ,则U1=84.9V,误差减小为5.76%。 此例充分说明了负载效应对测量结果的影响是很大的。 未接入电压表时R2上的电压降U0=ER2/(R2+R1) 接入电压表时,R2上的电压降 U1=ER2Rm/[R1(Rm+R2)+RmR2] 减小负载效应误差的措施: 总之,在组成测量系统时,要充分考虑各组成环节之间连接时的负载效应,尽可能地减小负载效应的影响。 (1) 提高后续环节(负载)的输入阻抗。 (2) 在原来两个相连接的环节中,插入高输入阻抗、低输出阻抗的放大器,以便减小从前一环节吸取的能量,减轻负载效应的影响。 (3) 使用反馈或零点测量原理,使后面环节几乎不从前面环节吸取能量。 机械工程测试技术基础 第二章测试装置的基本特性 一、系统对任意输入的响应 二、系统对单位阶跃输入的响应 §4 测试装置对任意输入的响应 目 录 三、系统对单位脉冲输入的响应 时域卷积定理:频域中两个函数的乘积表示时域中该两

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