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第五章X射线衍射仪介绍 德国布鲁克AXS公司 X射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，最重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。 我们的解决方案所涵盖的领域包括： 物相分析： 可变狭缝：选择您需要的试样照射面积 适合Cr、Fe、Co、Cu、和Mo靶的二次单色器 闪烁计数器、 Sol-X 固体探测器、位敏探测器PSD、面探测器 DIFFRACplus物相检索: 原始数据直接检索 对整个PDF卡片库的快速物相检索 晶体学（晶粒大小、指标化、点参测定、解结构等） 薄膜分析 织构与残余应力研究 不同温度、气氛条件下的原位相变动态研究 微量样品和微区试样分析 纳米材料 实验室及过程自动化 组合化学 　 [D8 ADVANCE 系列衍射仪]?? [D8 DISCOVER高分辨率衍射仪]?? [D8 GADDS面探测器衍射仪] ??[D8 DISCOVER 组合化学衍射仪]?? [D4 过程控制衍射仪] ?? [“纳米星”NANOSTAR小角散射系统] ?? [附件] ?? [XRD软件] ?? ? X射线荧光光谱仪 (XRF) 作荧光分析 我们的波长色散X射线光谱仪（也称：光谱仪解决方案）确保非破坏性、无环境污染、安全的多元素分析。 元素分析范围从铍到铀 含量范围从零点几个ppm到100 % 无标样XRF分析 准确度: 0.05 % (相对误差) 样品形态: 金属、非金属样品、粉末、液体 样品制备 简单快捷 二维探测器：快速相分析 在常规的X射线衍射分析中，微量试样或有择优取向样品通常是装在薄的玻璃毛细管中进行测量。对此类试样，其散射信号非常弱。而在较大立体角范围内探测衍射信号时，如测量整个或部分得拜环，则可得到可靠的衍射花样。D8 DISCOVER衍射仪系列中的GADDS系统以其独特的二维面探测器技术为您提供了完美的解决方案。 ? ? ? 无需试样或探测器移动，即可同时采集大角度2?范围数据 实时数据采集和显示 优异的峰背比 即使来自弱散射试样同样可获得精确的数据 围绕Debye环强度积分消除择优取向影响 薄膜分析：从玻璃或金属上的薄膜到外延膜均可分析 随着应用领域的不同，薄膜和涂层的性能也不一样。但是请注意：X射线衍射是探测它们的有力工具。对所有分析方法，通常的要求是入射角必须高度精确。通常来说薄膜的衍射信息很弱，因此需采用一些先进的X射线光学组件和探测器技术。 薄膜掠射分析：薄膜物相分析 反射率仪: 测量薄膜的密度、厚度和表面及界面粗糙度 薄膜材料分析 织构和残余应力研究 工件、矿物、陶瓷、聚合物等材料的微观结构，如择优取向（织构）或晶体点阵畸变（残余应力）等，与材料的宏观性能是密切相关的。因此，测定产品（例如：涡轮叶片、燃烧发动机阀门等）的织构和应力可反应产品的性能。 X射线衍射技术广泛的应用于生产过程中的质量控制。最新的X射线光学器件和探测技术的应用大大提高了数据质量，并加快了测量速度。 高低温原位研究 通常材料的性能随温度、压力、气氛、湿度等的变化而变化。用X射线衍射仪研究这些变化时，可将样品放置于特殊样品室中，该样品室的窗口对X光具有良好的通透性，其控制参数的设定及自动检查完全由DIFFRACplus 软件完成。 ? 高低温附件的温度范围为 5?K 到 3000?K 最高压力可达60?bar 相对湿度可达90?% 可加惰性或反应气氛 独特的高温薄膜研究附件 G?bel Mirror 可消除温度等因素引起的峰位漂移等现象。 D8 GADDS 微区/微量分析衍射仪 微量样品和试样的微小区域分析具有一个共同的特点：其X射线衍射强度极低；一般仅有少数几个晶粒对散射有贡献，而且，还会引起得拜环（Debye rings）的不连贯，即得拜环为一些不连贯的衍射斑点。可探测到不均匀衍射斑或整个得拜环，沿得拜环对强度数据进行积分可有效地修正这些因素的影响，获得精确的衍射图象，从而为进一步的分析提供准确的数据。 ? ?  可同时测量单晶、织构和非织构类样品 可探测小到50微米的微小区域的衍射信息 用XYZ三轴自动样品平台和激光/视频对光系统使样品对光及定位非常简单 D8 GADDS:大结构分析 beam stop和面探测器 受直射光和空气散射的影响。交叉的双G?bel 镜 及真空光路是D8 GADDS 用于小角散射的重要工具。 ? ? 交叉G?bel镜提供高强度的平行的点光源。 氦气通道消除空气散射 二维的 HI-STAR 探测器可得到最佳的信噪比 二维探测器可测量各向同性及各向异性样品。 D8 GADDS: 在同一台设备上分析