品质管理程6.doc

授 課 目 錄 品質管理概說 統計學概論 機率概論及機率分配 統計製程管制與管制圖 計量值管制圖 計數值管制圖 製程能力分析 允收抽樣的基本方法 計數值抽樣計畫 計量值抽樣計畫 量具之再現度與再生度 品質管理之新七大手法 根據所有管制品質指標的數據性質來進行選擇，數據為離散(間斷)的則選用計數值(Attributes)管制圖，如： 不合格品率管制圖(p) 不合格品數管制圖(np) 缺點數管制圖(c) 單位缺點數管制圖(u) 計數值通常可分為下列二種： 不可(好)量測，即感官檢驗的項目，如損傷、刮傷或缺失、顏色等。 可量測，但基於時間、成本因素而不加以量測。常以『Go/No Go』來決定產品是否符合規格。 計數值不符合規格時，係使用『不合格品』或『缺點』二名詞。『不合格品』(Non-conformity)係產品/服務品質特性偏離其期望狀態或水準，不符規格之需求。『缺點』(Defect)係產品/服務品質特性的使用性有所缺失，而非指不符規規格之需求。 計數值管制圖特性比較 特性 管制圖 品質特性 計算方式 機率分配 各組 樣本大小 p 不格品數 計件 二項分配 任意 np 不格品數 計件 二項分配 一樣 c 缺點數 計點 卜松分配 一樣 u 缺點數 計點 卜松分配 任意 p 管制圖的穩態是指製(過)程的不合格品率為一常數，且各個產品的生產是獨立。此管制圖的統計基礎為二項分配。設由母體隨機取 n 個產品，其中不合格品數為x，則x服從參數為n 與p的二項分配。 回顧一下************************************** 二項分配(Binomial)---若一隨機實驗只有成功(不良品)和失敗(良品)兩種結果，事件成功發生的機率為p，事件失敗發生的機率為1-p。通常以X~B(n , p)。其機率密度函數為： 其平均值與變異數為： 由數理統計知： (p = E[X]/n = np/n = p (p = V[X]/n = [np(1-p)]0.5/n = [p(1-p)/n]0.5 若p已知，p 管制圖的界限： UCLp = (p + 3(p = p+ 3[p(1-p)/n]0.5 CLp = (p = p LCLp = (p - 3(p = p - 3[p(1-p)/n]0.5 若p未知，則以樣本不合格品率 代之，其中d為不合格品數 當各組樣本數不同(k：樣本組數) 當各組樣本數相同n。則 p 管制圖的界限：A:各組樣本數同：() B:各組樣本數不同：() 建立p 管制圖與-R管制圖類似，現說明幾點： 若p很小，則n (樣本大小)需取大，使np (1，故 1/p n 5/p 或 1/ n 5/ 當n (樣本大小)變化時p 管制圖的管制界限成凹凸狀，作圖不便，亦不易判穩、判異。 若p已知，np 管制圖的界限： UCLnp = (np + 3(np = np+ 3[np(1-p)]0.5 CLnp = (np = np LCLnp = (np - 3(np = np - 3[np(1-p)]0.5 若p未知，則以樣本不合格品率 代之 ， (k：樣本組數，n須相等)，則 np 管制圖的界限： c管制圖係指產品中的缺點數通常呈卜松分配。 回顧一下：*************************************** 卜松分配(Poisson)---在一個單位時段或區域內，某事件發生次數的問題。通常以X~Poi(()。其機率密度函數為： 其平均值與變異數為： 當n很大時，二項分配趨於卜松分配 ************************************************* 若(已知，c管制圖的界限( c : 缺點數)： 若 ( 未知，則以樣本平均缺點數 代之， (k：樣本組數，n須相等)。則 c管制圖的界限： 若 ( 已知，u管制圖的界限(u:單位缺點數) ： 若 ( 未知，則樣本平均缺點數 代之， (k：樣本組數)。則u管制圖的界限： 計量值管制圖的最大優點是靈敏度高，往往在真造成不合格品之前已即時發現異常，而採取糾正措施。其次，計量值管制圖所須之樣本數要比計數值管制圖小，此點對於破壞性檢驗場合尤為重要。 在某些場合，如毛皮的手感，茲尚未能定量，此時只能用計數值管制圖。另外，在有多種判據的場合，若有任何一個判據不滿足，就認為產品不合格，這時應用計數管制圖處理較為簡單。 implementation of corrective t