超声波检测--实验讲义.docVIP

实验一 超声波仪器性能的测定 目的： 现场测试超声波仪器性能，包括垂直线性，水平线性，电噪声，动态范围和衰减器精度。 实验设备： 超声波探伤仪，直探头(2.5P14，2.5P20，5P14等均可) IIW1试块(或CSK-IA，1#试块等均可) 平底孔试块。 实验步骤 测定垂直线性 缺陷在工件中的大小是通过缺陷回波在示波屏上的幅度大小反映的，反射回波幅度是按一定规律反映缺陷实际反射声压的大小，即为仪器的垂直线性状况，以垂直线性误差表示。如图1所示，把与探伤仪连接的直探头平稳地耦合在平底孔试块的探测面上，仪器上的抑制与深度补偿关闭，在衰减器上应至少留有30dB的衰减余量，调节增益，使直探头在试块上找到的最大平底孔回波高度为100%满刻度，固定探头位置与接触压力(必要时可采用专用的探头压块)。调节衰减器，依次记下每衰减2dB时平底孔回波幅度的满刻度百分数并记入表1，并与理论值比较，取最大正偏差△+和负偏差最大绝对值｜△-｜之和为垂直线性误差，即： =(｜△+｜+｜△-｜)(%) ----(1) 注：理论波高值按下式计算--? △dB=20lg(H100/H)(式中H100为以100%满刻度起始的基准波高，H为每衰减2dB时理论上应达到的波高)。最后在图2上以波高(%)为纵坐标，衰减量(dB)为横坐标绘出垂直线性理想线与实测线(按表1)，再根据(1)式计算垂直线性误差。 表1 衰减量(dB) 理论波高值(%) 实测波高值(%) 偏差±(%) 垂直线线 0 100 2 79.4 4 63.1 6 50.1 8 39.8 10 31.6 12 25.1 14 20.0 16 15.8 18 12.5 20 10.0 22 7.9 24 6.3 26 5.0 28 4.0 30 3.2 图1 图2 测定水平线性 缺陷在工件中的位置是通过缺陷回波在示波屏上的位置反映出来的，通过仪器有关旋钮调整能否使仪器示波屏上的水平扫描线按一定比例反映超声波在工件中所经过的距离，即为仪器的水平线性，以水平线性误差表示。如图3所示，把直探头平稳地耦合在IIW1试块上厚度25mm的平面上(应离开边缘有一定距离以防止侧壁效应干扰)，调节仪器上的增益，衰减，水平(或零位，延迟)，深度(粗调与细调)，当采用五次底波法时：应使示波屏上出现五次无干扰底波，在相同回波幅度(例如50%或80%满刻度)情况下，使第一次底波B1前沿对准水平刻度线的20mm刻度，第五次底波B5前沿对准水平刻度线的100mm刻度，然后依次将B2，B3，B4调节到上述相同幅度下读取第二，三，四次底波前沿与水平刻度线上的40mm，60mm和80mm刻度的偏差，填入表2，取最大偏差△max(以mm计)按下式计算水平线性误差：△=(｜△max｜/0。8L)x100%，式中L为水平刻度线全长，通常为100mm，故0。8L=80mm 图3 图4 表2 底波次数 B1 B2 B3 B4 B5 水平刻度标定值(mm) 20 40 60 80 100 实际读数(mm) 20 　 　 　 100 偏差(mm) 0 　 　 　 0 采用五次底波法仅能测定0。8L范围内的水平线性，而对前面占0。2L的范围则不能测定，因此现在已要求采用六次底波法，即：以相同幅度(50%或80%满刻度)使B1前沿对准水平刻度线0mm处，B6前沿对准水平刻度100mm处，也在相同幅度下读取B2，B3，B4，B5各底波前沿与水平刻度线20mm，40mm，60mm，80mm的偏差(见图4)，填入表3，取最大偏差△max(以mm计)按下式计算水平线性误差：=(｜△max｜/L)x100%，式中L为水平刻度线全长，通常为100mm。 表3 底波次数 B1 B2 B3 B4 B5 B6 水平刻度标定值(mm) 0 20 40 60 80 100 实际读数(mm) 0 　 　 　 　 100 偏差(mm) 0 　 　 　 　 0 3。测定电噪声 仪器内部电子元件及电路上的固有噪声(电子噪声)的大小对超声检测时的信噪比有影响，并且其大小与仪器的工作频率和脉冲重复频率有关。 测定方法：将探伤仪的灵敏度调至最大(增益最大，衰减为零，抑制关闭，发射强度或脉冲能量最大)，且扫描范围最大，在避免外界干扰的条件下(卸掉探头，仪器周围无高频或强磁场干扰等)，读取水平基线上电噪声平均幅度在垂直刻度上的百分数作为仪器的电噪声水平。 4。测定动态范围 动态范围即是探伤仪放大器的线性工作范围，实用中是指在水平基线上能够识别最小反射波的界限，为了能