机电系统计算机控制技术_实验指导书2016教案.doc

机电系统计算机控制 课程实验指导书 电子科技大学机械电子工程学院 目录 实验一、采样控制实验 3 实验二 二阶PID控制 7 实验三 最少拍控制系统 14 实验一、采样控制实验 一．实验目的 1. 了解判断采样控制系统稳定性的充要条件，及采样周期T对系统的稳定性的影响。 2．掌握控制系统处于临界稳定状态时的采样周期T的计算。 3．观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。 二．实验原理及装置 1． 判断采样控制系统稳定性的充要条件 线性连续系统的稳定性的分析是根据闭环系统特征方程的根在S平面上的位置来进行的。如果特征方程的根都在左半S平面，即特征根都具有负实部，则系统稳定。 采样/保持控制系统的稳定性分析是建立在Z变换的基础之上，因此必须在Z平面上分析。S平面和Z平面之间的关系是：S平面左半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆内，S平面的右半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆外。 所以采样控制系统稳定的充要条件是：系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内。只要其中有一个特征根在单位圆外，系统就不稳定；当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时，系统就处于临界稳定。也就是说，只要特征根的模均小于1，则系统稳定；若有一个特征根的模大于1，则系统不稳定。当采样周期设定为临界值时出现等幅振荡。 2． 采样周期T对系统的稳定性的影响 闭环采样控制系统原理方块图如图4-3-3所示： 图1-1 闭环采样控制系统原理方块图 从采样实验中知道采样输出仅在采样点上有值，而在采样点之间无值。如其输出以前一时刻的采样值为参考基值进行外推，即可使两个采样点之间为连续信号过度。可以完成上述功能的装置或者器件就称为保持器。因为数/模转换器（D/A）具有两极输出锁存能力，所以具有零阶保持器的作用。 使用了采样保持器后，采样点间的信号是外推而得的，实际上已含有失真的成份，因此，采样周期信号频率过低将会影响系统的稳定性。采样周期T可由用户在界面上直接修改，在不同采样周期下，观察、比较输出的波形。 三. 实验器材 序号 名 称 型号与规格 数量 备注 1 LabACTn自控/计控实验机 1 四．实验内容及步骤 闭环采样控制系统实验构成电路如图1-2所示。 图1-2 闭环采样控制系统实验构成电路 其中被控对象的各环节参数及系统的传递函数： 积分环节（A1单元）的积分时间常数Ti=R1*C1=0.2S， 惯性环节（A2单元）的惯性时间常数 T=R2*C2=0.5S，增益K=R2/R3=5。 被控对象的开环传递函数： （1-1） 零阶保持器的传递函数： （1-2） G(z)为包括零阶保持器在内的广义对象的脉冲传递函数： （1-3） 将式（1-3）Z变换后，得闭环采样系统的特征方程： （1-4） 1．临界稳定状态时的采样周期T的计算 采样控制系统稳定的充要条件是：系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内，只要其中有一个特征根在单位圆外，系统就不稳定；当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时，系统就处于临界稳定。根据式（1-4）可知，特征方程式的根与采样周期T有关，只要特征根的模均小于1，则系统稳定。若要求特征根的模小于1，须： （1-5） 可得：采样周期T0.0823秒。 2．实验内容及步骤 闭环采样/保持控制系统实验构成电路如图1-1所示，了解采样周期T对控制系统的稳定性的影响及临界稳定状态时的采样周期T的计算。观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。本实验将函数发生器（B4）单元作为信号发生器，OUT输出施加于被测系统的输入端Ui，观察OUT从0V阶跃+2.5V时，被测系统的在不同的采样周期T时对系统的稳定性的影响。 （1）构造模拟电路：按图1-1安置短路套极插孔连线，表如下。 （a）安置短路套 （b）插孔联线 1 控制器输出 B4（AOUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→ A2（H1） 3 数据采集 A2（OUT）→ B2（CH2） 4 控制输出显示 B4（AOUT1）→ B2（CH1） 模块号 跨接座号 1 A1 S3，S11，S12 2 A2 S3，S10，S11 （2）软件使用方法 ① 双击打开软件，将该串口改成试验箱当前使用的串口，在桌面上右击我的电脑图标，选择管理，单击设备管理器就会出现下图所示的计算机管理界面。找到本机上试验箱所用的的COM口，在上图中选择当前使用的COM口。 ② 打开系统颜色设置，将坐标轴、背景色、测量文字和测量线改成下图中的颜色，点