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铁电薄膜及铁电存储器研究-河北大学学报自然科学版
第 卷 第 期 河北大学学报(自然科学版)
25 2 VoI .25 No .2
年 月 ( )
2005 3 JournaI of Hebei University NaturaI Science Edition Mar .2005
学科综述
铁电薄膜及铁电存储器研究
!
武德起,刘保亭 ,闫 正,闫常瑜,赵庆勋
(河北大学 物理科学与技术学院,河北 保定 071002 )
摘 要:综述了铁电薄膜以及铁电存储器的发展,讨论了铁电薄膜制备方法、结构和物理性能表征,并结
合作者的前期工作,详细讨论了用于铁电薄膜与硅衬底集成的导电阻挡层问题,指出了铁电薄膜研究中需重
点解决的一些问题.
关键词:铁电薄膜;集成铁电体;铁电存储器
中图分类号: ; 文献标识码: 文章编号: ( )
0 469 0 484 A 1000 - 1565 2005 02 - 0225 - 06
铁电材料的本征特性(存在自发极化而且在电场的作用下能够改变其方向)决定了铁电薄膜可以被制成
铁电随机存储器 相对于传统的非挥发存储器来讲,铁电随机存储器具有以下几个明显的优点:)具有本征
. 1
非挥发性;)具有较强的抗辐射性,可以在强辐射空间实现电子电路的操作;)可以在工作电压低于 的
2 3 5 V
情况下实现与硅 技术集成;)高速度,其读 写时间可达到 ;)高密度,随着铁电薄膜制备技术的
CM0S 4 / 30 ns 5
不断提高,人们克服了20 世纪五、六十年代存在的一些技术问题,如翻转电压高、误读写以及易于疲劳等,使
得铁电存储器的制备成为可能 年 公司生产了具有 字节的铁电存储器 但是,铁电存储器
. 1997 Hitachi 256 K .
的大规模商业化生产尚需要一定的时间,除了价格因素外,还需考虑存储能力和性能等因素,并且要求铁电
存储器的生产必须与成熟的现代半导体硅工艺兼容. 目前,在铁电薄膜的研究中,铁电薄膜的剩余极化强度
( )、疲劳特性( )、极化对脉冲宽度的依赖性( )、印迹( )、
remanent poIarization fatigue puIse width dependence imprint
漏电流、介电常数、表面与异质结界面等仍是影响其器件化和亟待解决的关键问题,有关非挥发性铁电存储
器与硅衬底集成方面的研究已成为铁电薄膜研究领域的焦点课题.
1 铁电薄膜的制备与表征
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