材料成分分析-X射线荧光光谱、原子发射及吸收光谱、等离子体发射光谱.pdf

第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理 1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.1 基本原理 高能量粒子与原子碰撞，将内层电子逐出，产生空穴, 此空穴由外层电子跃入，同时释放出能量，就产生具有 特征波长的特征x光谱。 第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理 1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.2 谱线命名 并不是对应于所有能级 组合的谱线都能出现，而 是必须遵守电子跃迁的选 择定则进行跃迁，才能辐 射出特征X射线。 Δn=1的跃迁产生的线系 命名为α线系，Δn=2的跃 迁产生的线系命名为β线 特征X射线线系 系，依次类推。 第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理 1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.2 谱线命名 能量与波长关系服 从光谱跃迁公式： 特征X射线线系 第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理 1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.3 谱线及应用分析 试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层 (K ，L或M层) 电子被激发逐出原子而引起电子 跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。  X射线荧光光谱定性分析。  X射线荧光光谱定量分析。 第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 b. X射线荧光光谱分析仪的结构 1.1.1 X射线荧光光谱分析 b.1 X射线荧光光谱仪分类 按色散方式分为: 波长色散型— 指采用分析晶体分光的X射荧光 分 析仪，效率较低，一般采用大功率光 管激发。 能量色散型— 采用半导体探测器和多道能量分析 器对光谱直接分辨的方法。探测效率 高，一般采用放射源或小功率光管激 发。 第一章材料成分分析 1.1 平均成分分析 b. X射线荧光光谱分析仪的结构 1.1.1 X射线荧光光谱分析 b.1 X射线荧光光谱仪分类 sample