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第7章-1_清华大学半导体物理与器件
第七章 表面电场效应和MOS物理
1
MOSFET是现代数字集成电路的核心器件。
MOSFET剖面图
• MOSFET与半导体表面及半导体-绝缘层界面性质密
切相关。
• MOSFET的核心部分是MOS(MIS)结构。
2
本章研究半导体/绝缘层界面性质以及MOS结构的电学
特性。
半导体表面以及半导体-绝缘层界面性质;
表面电场效应(是MOSFEF工作的基础);
MOS结构C-V特性。
3
§7.1 半导体表面和Si -SiO2界面
7.1.1 表面态
由于晶格周期性在表面处中断
而出现的局(定)域于表面附近
的电子态——表面态
禁带中的电子态数等于表面原子
数,表面原子面密度∼1015 2
/cm ,所
以表面能级准连续地分布在禁带
中。
总之,表面态起因于周期场在表面处中断;空间上
定域于晶体表面;能级位于禁带中。
4
从化学键角度来说明表面态
中性的表面硅原子:Si0
有一个未成键的电子(悬挂键)
中性的表面硅原子接受一个电子成为
负电中心:
Si0 +e →Si−
表面态起受主作用,相应的能级为受主能级
中性的表面硅原子释放一个电子成为
正电中心:
Si0 −e →Si+
表面态起施主作用,相应的能级为施主能级
5
表面态既可以起受主作用,也
可以起施主作用。对于正的电子
相关能情形,受主能级能量高于
施主能级能量。
6
7.1.2 Si-SiO 界面
2
借助MOS结构研究Si-SiO2界面性质。
Si-SiO2界面:
不是几何平面:空间起伏;
存在非理想配比的过渡层
SiO (x = 0 ∼2 )。
x
SiO 中及Si-SiO 界面处存在
2 2
电荷,主要包括:
固定电荷Qf
可动电荷Qm
界面态电荷Qit
陷阱电荷Qot
7
固定电荷Q :
f
位于Si-SiO2界面附近(过渡区);
正电荷;
位置固定( 电场作用下不运动);
电荷固定(不和Si交换电子);
10 12 2
面密度Nf 在10 ∼10 /cm 量级;
起源于界面附近的过剩Si+ 离子。
可动电荷Q :
m
+
SiO2 中的杂质离子,主要是Na 钠离子。
正电荷;
+ +
Na 在SiO 中的扩散系数(迁移率)很大
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