晶体管原理实验全书.docVIP

实验一 三极晶体管与场效应晶体管的特性图示 一、实验目的 1.掌握半导体管特性图示仪的使用方法。 2.掌握测量晶体管输入输出特性的测量方法。 3.观察、了解及分析晶体管特性曲线，为合理选取和使用晶体管打下基础。 二、工作原理 整机原理方框图见图1。从图中可见，本机主要由集电极扫描电源，阶梯波发生器X、Y放大器，高频高压电路及低压供电电源几大部分组成。集电极电源提供被测管的扫描电压（C、E端），阶梯波发生器供给B端注入信号，通过X、Y放大器将电压及电流调理后供给由高频高压驱动加亮的示波管，显示出被测器件的特性曲线供观测。 三、使用方法 ㈠ 面板（图2） 1.示波管 2.辉度：调整图像亮度 3.聚焦：调整图像清晰度 4.辅助聚焦：用以调整清晰度 5.整机电源开关，按下“电源开”一端电源接通 6.电源指示灯：此灯亮表明仪器已接通电源 7.垂直偏转因数选择开关 8.零点按钮：按入显示Y轴零参考点 9.满度按钮：按入从零点上移10度.(可用侧面“Y增益”调准) 10.垂直移位旋钮：顺时针时向上移 11.水平偏转因数选择开关 12.零点按钮：按入显示X轴零参考点 13.满度按钮：按入从零点右移10度(可用侧面X增益调准) 14.测试台半导体管A（左侧）的被测管水平位移旋钮 15.测试台半导体管B（右侧）的被测管水平位移旋钮 16.阶梯幅度选择开关：选择阶梯波每阶的幅度值 17.级/簇开关：选择阶梯的阶数 18.按入状态——“Ib=0”位置时,为零电流。使被测半导体管的基极处于开路状态 19.按入状态——“Vb=0”位置时,为零电压。使被测半导体管的基极处于短路状态 20.串联电阻：当阶梯选择开关(16)置于V/度位置时，串联电阻将串联在被测半导体管的输入电路中。当阶梯选择开关置于mA/度位置时阶梯信号不通过串联电阻 21.扫描峰值电压调节旋钮：调至零点（逆时针到底）集电极施加电压为0，并有解除保护功能。顺时针旋转可增加集电极扫描电压值 22.功耗限制串联电阻选择开关：置适当档位,以保护被测器件 23.按入状态——扫描电压范围在0 ～ 20V 24.按入状态——扫描电压范围在0 ～ 500V 25.按入状态——二端测试电压范围在0 ～ +5KV(直流) 26.当被测器件电流大于Y轴满度值1.05倍左右时保护指示灯亮，扫描电源关断。当需要再次测量时将峰值电压旋钮(21)调回零点(保护指示灯灭)后再继续测试 27.容性电流微调：平衡(小电流档时)接线及元件对地的杂散电容所引起的失真 28.二端测试电压Vd(0 ～ +5KV)输出端 29.二端测试电压(0 ～ +5KV)电压接入指示 30.接地端 31.PNP（阶梯极性）按入状态——扫描电压为负；弹出状态——扫描电压为正。本开关与NPN（扫描极性按钮）为互动形式 32. NPN（集电极扫描极性控制按键）按入状态——阶梯为负极性；弹出状态——扫描电压为正。本开关与PNP（31）为互动形式。PNP与NPN两按键可组合成四种输出状态 PNP（按键） NPN（按键） 阶梯信号极性 集电极扫描极性 备注 低 高 负 负 高 低 正 正 低 低 负 正 键按到半程释放 高 高 正 负 两键同时按到底 33.测试盒插座：将需要的测试盒插头插入此插座后使用 ㈡注意事项 在全面了解本机各个控制开关及旋钮之后,下面便可实际操作,首先要注意以下几点: 1.每次开机前，首先检查电源连线是否连接良好，要将“测试选择”开关置“关”档位，集电极扫描信号中的“峰值电压”旋钮置零位置(逆时针旋到底)。严禁在“峰值电压”旋钮调高以后短路“E”、“C”两端，或“B”、“C”两端。 2.在大电流测试和在高压测试时,为保证器件安全和测试精度,应尽量缩短加电时间,而且不能在测试状态下转换各种开关,如需要改变测试状态,应先将扫描峰值电压钮旋至最小,然后将测试选择开关置中间关断位置。 3.在两端测试时,必须将“集电极扫描信号”部分极性置“+”。首先要将被测器件连接好,再转入测试状态(Vd-5KV红色指示灯亮)。在本项测试状态下和扫描电压大于20V档位的状态严禁操作者的任何部位接触被测器件和测试端子及金属带电部件以保证人身安全。严禁在“峰值电压”调高以后短路输出端。为保证被测器件安全,在高压测试时Y轴电流档尽量选择小一些。两端测试电压不能超过5000V(500V/度×10度)后继续往高调。 4.在测试高频半导体管输出特性时,有可能产生自激震荡,使波形不平坦,出现失真,或显示不清晰此时,可用适当容值的电容(如100～3000Pf)接在被测管的B、E间,消除自激震荡。 四、实验方法及步骤 1.开机前先将各控制机构调定如下: 辉度,聚焦,辅助聚焦适中 Y轴选择开关 --------------- -----------