标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨.pdfVIP

8一一{) 第9卷 第3期 电子测量与仪器学报 0f．9 No．3 0OURNAL 0F ELl℃TR0N1C · 28· M EASUREMENr AND INSTRUMENT 第9卷 标准测试存取口与边界扫描结构 在印制板级与系统级实现的探讨 塑宝拴 佳长明V刘诗荣 一 1 口 2 (天津大学计算机系，天津300072) A[擒蔓]本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总线 第一部分 标准测试存取口与边界扫描结掏” 在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综 述了美国相应标准IEEE Std 1149．1公布前后提出和试行在印制板级和系统级实现的若干方法和方案．包 括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实现中国电子行业标准“标准测试 一 、 前 言 、I 80年代中后期提出的“标准可测性总线 是解决器件、印制板和系统级可测性问题的设 计方法，可以说是将可测性设计标准化用的标准，而且是面向世界范围的。这个多子集的庞 大标准中第一子集IEEE Std 1149．1“IEEE标准测试存取口与边界扫描结构 已于1990年 通过并成为正式标准，其它子集和附件尚在制订中(虽然报道有的子集或附件已通过，但目 前尚未见到正式文本)。中国电子行业标准“标准可测性总线 第一部分“标准测试存取口与 边界扫描结构 是参照IEEE Std 1149．1制订的，已于1993年通过评审并报批，94年批准为 编号sJ／T10566—94的标准。关于可测性总线和标准测试存取口与边界扫描结构的内容已在 文献。 中介绍．因篇幅关系这里不多说明，只对其实蘸和推广在综述国外有关情况基础上提 出一些建议和探讨。抛砖引玉，以期引起有关部门和同行关注，积极实蘸本标准，做好和国际 标准的接轨工作。 二、标准测试存取口与边界扫描结构 标准测试存取口与边界扫描结构 规定其测试存取口(TAP)要包括测试数据输入 (TDI)与输出(TDO)、测试时钟输出(TcK)和测试方式选择输出(TMS)四条线，还可有一 条选用的测试复位输入(TRsT)线。边界扫描结构则是在器件的靠近其每条引脚处包含一 本文于1994年4月收到。刘家松：教授f任长明；副教授}刘诗荣，博士、讲师。 第3期 标准测试存取II与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨 ·29· 个移位寄存器级，从而可用扫描测试原理控制和观测器件边界上的信号。图l示出一种符合 该标准的器件简图，移位寄存器级包括在边界扫描单元中。此外符合该标准的器件或系统， 还包括一个较简单测试逻辑。图2示出了测试逻辑框图，主要包括一个TAP控制器、一个指 令寄存器和一组测试数据寄存器。测试数据寄存器组是若干以移位寄存器为基础的部件，并 联公共串行输入(TDI)与输出(TDO)之间，必须包括旁路寄存器和边界扫描寄存器，还可包 括选用的器件识别寄存器和设计规定的测试数据寄存器 TC置 TMI 着通器件I／(3 1 瞢通器件It0 圈1 具有标准测试存取口 · 与 隼懈 掏 器件硼 田r 利尉边弄打措的tx1] 栅 试)方式测试互谗 TC