试验一光纤位移传感器――位移测量-江西理工大学.DOCVIP

《光电检测技术》实验指导书 冯梅琳 王幼华编 江西理工大学机电学院机电实验中心 2006年7月 实 验 守 则 一、按要求预习实验指导书，否则不得参加实验。 二、提前五分钟到达实验地点，不能参加者需提前请假。 三、分组实验按排定时间及名单进行，不得随意调换。 四、实验时应严肃认真，保持安静。 五、爱护仪器，并应严格遵守操作规程，如发生故障应及时报告，属 责任事故损坏者必须赔偿。 六、严重违反实验守则者取消实验资格。 七、认真写好实验报告。 目 录 实验一 光电探测器相对光谱响应度的测试 1 实验二 LED光谱特性及光栅单色仪的测试 4 实验三 雪崩光电二极管APD特性参数的测试 7 实验四 光电倍增管PMT特性参数的测试 10 实验五 光纤传感的温度测量实验 14 实验六 光纤位移传感器的特性及位移测量 17 实验七 光纤传感器——转速测量 19 实验一 光电探测器相对光谱响应度的测试 一实验目的二实验原理是光电探测器对单色辐射的响应能力，通常有两种表示方式：电压光谱响应度和电流光谱响应度。 电压光谱响应度定义为在波长为的单色辐射功率的照射下，光电探测器输出的信号电压，用公式表示为： 电流光谱响应度定义为在波长为的单色辐射功率的照射下，光电探测器输出的信号电流，用公式表示为： 式中：为波长为时的入射光功率；为光电探测器在辐射功率作用下的输出电压信号；则为输出电流信号。 通常，测量光电探测器的光谱响应用单色仪对光源的辐射功率进行分光得到不同波长的单色光，然后测量探测器在不同辐射波长下的响应。 本实验采用标准探测器法（选择光电三极管作为标准探测器）测量探测器的相对光谱响应度，即用已经标定好相对光谱响应度的标准探测器先得到在波长为时的探测器输出电流，再利用被测探测器得到在波长为时探测器的输出电流。 已知标准探测器在波长为时的相对光谱响应度， 由： 和 可得： 在全光谱范围内进行归一化处理：找到全光谱范围内的最大值，然后就可以得到在波长为时的探测器的相对光谱响应度的值为： 在实际测量时，每个探测器输出的光电流都要经过I-V变换为电压信号，即计算机采集到的是电压信号，软件的数据处理过程中，将此电压信号除以反馈电阻值就是光电探测器响应的电流。 三实验仪器和设备 光源发出的光由聚光镜会聚于单色仪的入射狭缝上，单色仪把入射光分解成单色光并由出射狭缝射出。然后在出射狭缝处先后用标准探测器和被测探测器进行探测。 四步骤及内容 五实验报告要求 3、实验心得体会。 实验二 LED光谱特性及光栅单色仪的测试 一实验目的二实验原理，光谱曲线上两个半光功率点， 所对应的波长差称为LED谱线宽度（简称谱宽），其典型值在30－40nm 之间。 LED光谱测试原理如图 2-2 所示，分为入射光部分、分光部分和探测器信号处理部分三大块。基本原理是通过单色仪分光（单色仪由步进电机控制），将连续光谱变成近似单色光，通过探测器及相应的放大、A/D转换、采集电路，在计算机上得到光谱曲线。光谱曲线测试的探测器部分电路如图2-3所示。 三、实验步骤及内容＝40mA；打开测试仪电源总开关，在计算机上运行相关软件。 4、 将单色仪出口波长调整到 380nm，然后以 10nm的步距在 380—1080nm之间扫描，观察探测到的数据。记下最大值对应的波长。 5、 在左右各10nm的波长范围内改为 1nm的步距扫描，得到新的最大值。，就是LED的峰值波长，记为。 6、 以为中心，取两个波长，，分别以、为中心，在其左右各5nm的波长范围内改用1nm的步距扫描，得到最接近1/2的两个波长、。 7、在计算机上观测数据及曲线并打印结果。 8、换白光LED，重复上述步骤，此时反馈电阻是10K。 四、实验报告要求和谱宽。 3、实验心得体会。 五、思考题一实验目的二实验原理倍增益。 2、 APD 的反向击穿电压（） 在理论上，把 APD 的反向击穿电压定义为载流子倍增因子达到无穷大时的电压。在实际测量时，把 APD 的击穿电压定为在无入射光照时候反向电流（或暗电流）达到一个预定值（典型值为 100μA）的反向电压。 3、 APD 的暗电流（） 在无光照射的情况下给 APD 加反向电压将产生反向电流，这就是 APD 的暗电流，显然，APD 的暗电流与反向电压的大小有关。 4、 APD 的倍增系数（雪崩增益） APD 的电流增益用倍增系数（或雪崩增益）表示，其定义为： 式中： 为无雪崩增益时 p-n 结的反向电流（APD不加反向电压时的光电流）, 为有雪崩增益时的反向电流。 三、实验步骤（注意：必须严格按照操作步骤进行）