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可逆电路中门失效错误的定位方法.pdf

V01.27 第27卷第3期 光 电 子技术 No.3 2007年9月 OPTOEl。ECTRONICTECHNOI.oGY Sept.2007 可逆电路中门失效错误的定位方法’ 肖芳英1,陈汉武1,李志强1’2 (1.东南大学计算机科学与工程学院,南京210096I 2.扬州大学信息工程学院计算机科学与技术系,江苏扬州225009) 摘要:可逆电路是量子计算科学,低能耗COMS以及纳米技术蜒究的基础。确保可逆电路 曲正确性和可靠性,错误检测和定位必不可少。本文通过分析可逆电路发生f1失效错误时对电路 的影响,给出了一种门失效模型的错误定位方法,即生成错误定位树的方法。本文生成的错误定 位树中,根据输入向量的不同输出能把当前错误集划分成多个小的错误集,使得树的高度较小, 定位错误较快。此外,在生成电路的错误定位树时不需要生成真值表和错误表,从而节省了大量 的存储空间,所以能应用于大型的电路。 关键词:可逆电路;错误模型;门失效模型; 错误定位;错误定位树 中图分类号:TP387文献标识码:A FaultLocationfor FaultinReversibleCircuits Missing—gate XIAO Han—wul,LI Fang—yin91,CHENZhi—qiang“2 (1.School Scienceand of 210096,CHN; Computer Engineering,SoutheastUniversity,Nanjing 2.Scho“ofInformation 225009,CHN) Engineering,YangzhouUniversity,YangzhouJiangsu Abstract:Reversiblecircuitis thebaseof CMOS,and quantumcomputation,low—power the ensurethe and of reversiblecircuits,faultdetectionand nanotechnoIogy.Tovalidityreliability localizationis theinfluenceofMGFonthereversiblecircuit7s necessary.By output。thispaper analyzing introducesamethodtolocate is faultlocalizationtree.The fault(MGF),that missing—gate building methodintroducedinthis candividethecurrentfaultsetintoseveral ofthe sub

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