220kVGISSF6CT气室闪络分析-中国电机工程学会.PDFVIP

中国电机工程学会高压专委会2007年学术年会论文集 220kV GISSF CT气室闪络分析 6 1 1 ３ 1 2 2 2 2 裘吟君 刘岩 袁静帆 姜宏仁 姚唯建 周永言 陈锦清 钱艺华 1 海南电力试验研究所 2 广东电力试验研究所 3 海南电网公司 摘要 全文通过常规与非常规化学、电气试验手段，对国产GIS SF6 CT 气室中闪络故障前后固体粉末、气体 成分及CT 气室内的化工材料进行全方位排查性试验，证明，频繁发生的闪络故障为内置式CT 气室内的丁腈 橡胶板，其橡胶中未胶链好的零价态腐蚀性硫与气室内触头等镀银件反应形成硫化银，硫化银在电磁场作用 下，在气室内移动并形成导电通道，引起CT 气室闪络击穿。GIS SF6 CT 气室内化工材料测评与质量监控缺 少相应的行业或国家标准，是导致目前国产GIS CT 气室杂质含量高，故障率也相对较高的根本原因。 关键词 SF ；分析；腐蚀；标准 6 1 问题引出 平高厂 2005 年间投产的 LW105-252W 型 GIS 开关，在南网系统内，于2006 年8-11 月间连续4 个间隔的CT 下位气室出现相同 的5 次闪络击穿故障，五次故障均表现为母 差保护动作，经检查各气室 SF 气体压力正 6 常，录波仪记录事故前运行电流80~140A， 故障电流10-13KA，对检出SO 、HF 气体的 2 图2 CT 气室解体后发现CT 气室内有大量的白色 粉末物如图 1，且靠断路器侧绝缘盆子上附 着大量的黑色粉末物，电连接变黑如图 2 ， 电连接基座右上侧金属熔缺，见图 3 。2006 年 11 月12 日在对从未投运的同型备用间隔 CT 气室解体检修时，在电连接触子上也发 现黑色粉末物，详见图4 。 图3 图1 图4 中国电机工程学会高压专委会2007年学术年会论文集 本次试验用气体，均采用真空钢瓶自然 2 化学、电气排查试验 压力平衡法取气。 基于对多项事故现场与试验大厅的电气 3 试验手段与结果 及摸拟性电气试验结果，在排除了 CT 气室 机、电、热的影响因素后，怀疑对象集中转 3.1 运行设备、仿真电气试验后 CT 气室气 向 SF6 气室中因使用某种未知劣质化工材 体相成分常规分析 料，该材料挥发出极性杂质，致使 CT 气室 洛基故障后，我们先按 SF6 电气设备故 内电场畸变进行而发生击穿事故的推断，故 障分析的现有常规化学分析手段，对所有故 障分析试验重点也转向从化学角度对闪络故 障间隔进行微水、线纯度、检测管、气相色 障前、后 CT 气室内固体粉末及 SF 气体成 6 谱分析。 分进行全组分分析。 （1）现场微水、纯度检测 同时模拟现场环境，进行排除可疑