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种用于动态电流测试的故障模拟算法-计算机工程与科学

维普资讯 CN43.1258/Ⅱ’ 计算机工程与科学 2002年第 24卷第 2期 IssN 1O叽.130X COMPUTERENGINEEPdNG & SCIENCE VoI.24,No.2,2002 文章编号:1007.130X(2002)024)054—05 一 种用于动态电流测试的故障模拟算法 A FaultSimulationAlgorithm forDynamic CurrentTesting 朱启建,邝继顺,张大方 ZHUQi-jian,KUANGJi·shun,ZHANGDa·fang (湖南大学计算机与通信学院,湖南 长沙 410082) (SchoolofComputersandCommunications,HunanUniversity,Changsha410082,China 摘 要:本文针对动态电流测试 ,提 出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑 门的动态电流通路故障模型 在波形模拟嚣的基础上给 出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法 Abstract:Sorner1ew conceptsofd3mamiccurrentpathanddynamic.current-pathfauh.andthed’伽 l2=c.cM,. rera-path-faultmodelofprimarygatesfordymamie(trnasient)currenttestingarepresentedinthepaperAfaultsim- ulationalgorithm basedonwavesimulationis ven 关键词:动态电流测试;波形模拟;故障模拟;动态电流通路故障 Key-fiords:IDDT testing:wavefo玎nsimulation:faultsimufation;d)~amnic—CUlT~rlt.paht fauh 中圊分类号:TP331 文献标识码:A 方法检测出来。 1 引言 动态 电流测试通过观察电路在其内部状态发 生变化时流经 电路的动态 电流,来发现某些不被 cMOs技术在 VLSI中已成为一种 占主导性 其它测试方法所能发现的故障。当电路状态发生 的、最为重要的技术之一。传统的基于固定型故 变化时,由于 CMOS电路 中 PMOS晶体管和 障模型的测试技术,已经不能满足高性能数字集 NMOS晶体管同时导通以及电路 中电容的充放 成电路特别是CMOS电路发展的需要…。事实 电,使得在电源与地之间形成了一个短暂的导电 上,CMOS电路中的故障和失效机制是各种各样 通路,流经这一短暂通路的电流即人们所称的动 的,人们很难一一列举并用一两种模型来加以充 态电流。观察动态电流给人们提供了一个透视电 分描述 。正因为如此,静态电流 (,D0)测试 自 路内部开关性能的窗口,R.Z.Makki和s.T.su 2()世纪8O年代提出以来L2,3,受到了越来越多 等在文献 7,8 中讨论了动态电流测试的可行 的学者及工业界的重视,它的优点越来越显现, 性和实用性。动态电流测试作为电压测试和静态 目前已成为一种广为接受的CMOS集成电路测试 电流测试的一种补充手段逐渐受 到人们的重 方法。但是,CMOS电路中的某些故障,例如部 视 J。但总的来说,动态电流测试 目前还仅是一 分开路故障l4 ,就不能用静态电流方法或 电压 种理论上的测试方法而 已,要将这种方法有效地 喜蔷界檗蓍皇鼍嚣蓄牟 焉 学 呈。撬方向为数字电路测试;邝继顺.副教授,研究方向为数字电路

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