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热循环条件下SnAgCuCu焊点金属间化合物生长及焊点失效行为.pdf
38 材料工程/2010年10期
热循环条件下SnAgCu/Cu焊点金属间化合物
生长及焊点失效行为
GrowthKineticofIntermetallic andFailureBehavior
Compounds
for Solder toThermal
SnAgCu/CuJoints Cycling
Subjected
肖慧,李晓延,李凤辉
(北京工业大学材料科学与工程学院,北京100124)
XIAOHui,LI
Xiao-yan,LIFeng—hui
ofMaterialsScienceand
(College
of 100124,China)
University
Technology,Beijing
摘要:研究.r热循环过程中SnAgCu/Cu焊点界面金属间化合物的生长规律及焊点疲劳失效行为。提出了热循环条
件下金属间化合物生长的等效方程以及焊点界面区不均匀体模型,并用有限元模拟的方法分析了热循环条件下焊点
界面区的应力应变场分布及焊点失效模式。研究结果表明:低温极限较低的热循环,对应焊点的寿命较低。焊点的失
效表现为钎料与金属问化合物的界面失效,且金属间化合物厚度越大,焊点中的累加塑性功密度越大,焊点越容易失
效。
Cu焊点界面区;热循环;可靠性;有限元
关键词:金属间化合物;SnAgCu
中图分类号:TG425文献标识码:A 文章编号:1001-4381(2010)10-0038-05
Abstract:Thekineticofintermetallic failurebehaviorof
fatigue
growth compounds(IMCs)and
solder tothermal havebeen IMC
SnAgCu/Cujointssubjected cycling investigated.Anequivalent
for modelforsolder interfacewere
thermal anda
growthequation cycling heterogeneous joint pro—
thefinite was to the fielddistribu—
element(FEM)simulationanalyzestress/strain
posed,and applied
tion
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