用全息干涉计量法测材料的线膨胀系数.PDF

维普资讯 第 4期 华东师范大学学报 (自然科学版) N0．4 2003年 12月 JournalofEastChinaNormalUniversity(NaturalScience) Dec．2003 文章编号 ：1000--5641(2oo3)O4一oo55一O5 用全息干涉计量法测材料的线膨胀 系数 周嘉源， 江一德，雇 强， 胡世轮， 王小铭， 戴惠英 (华东师范大学 物理系，上海 200062) 摘要 ：该文介绍 了全息干涉计量法测量材料线膨胀系数的实验原理和实验装置。并对具体的样 品进行了实验测量 ，取得了初步的结果 ，并采取了进一步改进实验、减小实验误差 的措施 。对全 息干涉计量方法的此类应用进行了有益的尝试 。 关键词 ：全息干涉计量； 两次曝光 ； 线膨胀系数 ； 微小位移； 柱状电加热器 中图分类号 ： TN26 文献标识码 ：A 0 引 言 所有的物质都有热胀冷缩的特性 ，物理上用线膨胀系数来描述物质的这种性质 。固体 的线膨胀系数一般都很小 ，在 i0 --i0{℃ 的数量级。以黄铜为例 ，一根约 600ram长的黄 铜棒 ，如果温度变化 80℃左右，它的长度变化约 0．9mm。因此，对于 比较短小的样 品，一般 的测量方法 由于精度达不到，难 以测量 。而用全息干涉计量法测量线膨胀系数 ，具有精度 高、对物体无损伤的优点 ，尤其对于那些贵重材料的短小样品来讲，全息干涉计量法就显得 更为合适 。 1 原 理 两次曝光全息干涉计量技术是测量物体微小位移的一种常用的光学方法。这种方法是 把物体发生微小位移或形变前后的两束物光波记录在同一张全息干板上 ，当全息图再现时， 就形成了物体的两个三维虚象。由于这两个再现象的位置分开得极其微小 ，用 肉眼无法辨 别，这两束再现物光束又相互干涉，因而在再现物虚象上会迭加一系列明暗相间的干涉条 纹。对这些干涉条纹的分析和计算就能得到物体各点的位移或形变量的大小。 图1为拍摄两次曝光全息图的光路图。其 中S为 He-Ne激光器 ，P为分束器，M1、M2 为反射镜 ，z、z：为扩束器，H 为全息干板，G为带有毫米刻度的钢尺 ，Z为样品受热膨胀的装 置 ，丁为固定钢尺用的台虎钳。设形变前后两物光束的复振幅分别用 0、o，表示。参考光束 用 R表示。一般来讲物光波和参考光波的复振幅都是坐标的函数，应该严格表示为 O(x、 、z)一 0o(z、 、z)P 、 ， o，，R也应如此，本文中，将 0、o，、R简单写成0—00 ，o，一0oP“却)，R—R。e，其 中△ 为形变前后两物光束的位相差 。在全息干板上，形变前后两物光束分别和参考光束进行干 涉迭加 。 曝光量正比于光强度 ，我们可以把它写成 E_--El+E2，其 中E为总曝光量，E 、E2分别为物 收稿 日期 ：2OO2—1O 基金项 目：国家教育部立项 21世纪初高等教育改革项 目(1283B02063) 作者简介 ：周嘉源 ，(1947一)男 ，讲师． 维普资讯 56 华东师范大学学报 (自然科学版) 体形变前后两次曝光的曝光量 。E。= (O+R)(O+R)。，Ez一 (o，+R)(o，+R) 。经处理 后全息干板上各点的透射率 T和总曝光量有一定关系，可用一个常数 B来表示，可表达为 T—B(El+E2)。 图 1 全息干涉计量法光路图 图2 形变前后两物光束 的光程差 Fig．1 Theopticalsystem forHolographic Fig．2 TheopticalpathdifferenceoftWObeamsof interferometry objectlightfrom deformationinfrontandback 再现时，用原参考光束照射全息干板，透射 出来的光波复振幅UocRT，可 以表达为U— RB(E。+E。)。因此通过干板的透射光波复振幅可表示为 U = BR0e (El+ E2) = B(208R