西大催化剂表征X射线光电子能谱探究.ppt

X射线光电子能谱X-ray Photoelectron Spectroscopy 广西大学 化学化工学院 许雪棠 表面分析 The Study of the Outer-Most Layers of Materials (100 ?). Electron Spectroscopies XPS: X-光电子能谱 AES: 俄歇电子能谱 EELS:电子能量损失谱 光电子谱线(photoelectron lines) 1.强度 2. 峰宽 3.对称性 4.化学位移 化学位移与原子上的总电荷有关（电荷减少→结合能 Eb 增加）、 取代 物的数目、取代 物的电负性、 形式。 具体方法 目的 ： 给 出表面元素组成，鉴别某特定元素的存在性 方法 ： 通过测定谱中不同元素芯光电子峰的结合能直接进行。元素定性的主要依据是组成元素的光电子线和俄歇线的特征能量值具唯一性 。 工具 ：XPS 标准谱图手册和数据库 / /xps/Default.aspx 步骤： (1). 全谱扫描(Survey scan) 对于一个化学成分未知的样品首先应作全谱扫描 ， 以初步判定表面的化学成分 。 在作XPS 分析时 ，全谱能量扫描范围一般取 0～ 1200eV，几乎所有元素的最强峰都在这一范围之内 。 例：白云母的XPS宽谱 续 (2). 窄区扫描(Narrow scan or Detail scan) 元素