同步光干涉方法对BEPCⅡ储存环束流的测量.pdfVIP

第23卷第9期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．23，NO．9 2011年9月 HIGHPOWERLASERANDPARTICI。EBEAMS Sep．，2011 文章编号： 1001—4322(2011)09—2512—03 同步光干涉方法对BEPCⅡ储存环束流的测量+ 王 理， 赵敬霞， 曹建社， 赵 政 (中国科学院高能物理研究所加速器巾心，北京100049) 摘 要： 利用同步光的可见光波段空间十涉方法，对北京正负电子对撞机储存环的束流横向截面垂直尺 寸进行了测量。在同步模式下，测得束流横向截面垂直尺寸为155“m，测量结果与理论值符合得很好。此方 法避免了同步光衍射带来的测量误差，并使结果更精确，且对其它非相十小尺寸光源也同样适用。 关键词： 同步光； 束流测量； 干涉； 相干度 中图分类号：TN29 文献标志码： A doi：lO．3788／HPI。P2512 电子在储存环中以近光速运动，当运动方向发生改变时会发射出电磁辐射，也就是同步光。由于同步辐射 光的辐射张角很小，因此叮以认为同步光斑的横截面尺寸几乎同电子束团相同。电子储存环中束流横向截面 分布近似为高斯分布，通过截面尺寸可以计算得到发射度、p函数和耦合度等标志加速器运行状况的重要参 数。同时，束斑尺寸的实时显示对运行状态和故障排除具有重要作用。截面尺寸测量的方法有多种形式，由于 同步光测量对束流无阻拦、实时以及自然的光电隔离等优点，近年来已成为主要的测量方法。 目前，利用同步光测量电子束流横向尺寸的测量方法有：同步光可见光直接成像、同步光x射线小孔成 像、同步光x射线FZP(菲涅耳波带片)成像及同步光干涉等方法『1。2]。可见光直接成像方法分辨力最好可达 到20弘In，系统简单便宜；同步光x射线小孔成像方法分辨力可达到10肛m以下，但造价相对较高；同步光x 射线FZP成像方法分辨力可更低到1肛m以下，但造价高达近千万元。相比而言，同步光干涉方法，分辨力在 5”ITI左右，造价便宦，但缺点是只能测量截面尺寸，不能同时测量束流位置等信息。北京正负电子对撞机二期 工程(BEPC11)储存环束团尺寸相对第3代光源的束团尺寸较大，其垂直方向尺寸约为150弘m，因此干涉方法 几肚1TI的分辨力完全可以满足调束的物理需求。故此，考虑采用干涉法对BEPCⅡ进行束团尺寸精确测量，同 时也利用同步光可见波段成像进行常规的截面尺寸和位置监测。本文用同步光干涉方法，对BEPClI储存环 束团垂直截面尺寸进行了测量。 1 方法原理 同步光干涉方法由日本Mitsuhashi等人于1997年首次提出嘲。根据范西泰特一策尼克定理，当非相干光 源本身的线度以及观察区域的线度都比二者问的距离小得多时，观察平面上的相干度正比于光源强度分布的 归一化傅里叶变换，同步光干涉方法结构如图1所示。 y(v)一F[-J。(z)] (1) Structureofsynchrotron Fig．1 lightinterferometry 图1 同步光干涉方法结构简图 *收稿日期：2010 11-01； 修订日期：2011—04—25 作者简介：王理(1984一)，男，助理研究员，主要从事同步光束流尺寸测量研究；wangli@ihep．ac．ca。 第9期 王理等：『司步光干涉方法对BEPCⅡ储存环柬流的测量 2513 式中：y(V)为观察平面上的相干度；v为空间重复频率；，。(z)为光源强度分布；z为光源平面上的位置；F为傅 里叶变换。对于同步光源，，。(z)为高斯分布 “d—xp(寿) (2) 式中：a2为高斯分布的方差。由式(1)，(2)可得到相干度与束团截面尺寸的解析关系为…