电沉积法制备用于一维纳米材料电子输运性质测量-中国科技论文在线.pdfVIP

中国科技论文在线 第 10 卷 　第 1 期 电化学 Vol . 10 　No . 1 2004 年 2 月 EL ECTROCHEM ISTR Y Feb . 2004 ( ) 文章编号 :1006- 347 1 2004 0 1- 0020- 07 电沉积法制备用于一维纳米材料 电子输运性质测量的基底 刘进轩 , 向　娟 , 田中群 ,毛秉伟 ( 固体表面物理化学国家重点实验室 ,厦门大学化学系 ,福建 厦门 36 1005) 摘要 : 　应用电沉积方法制备两种低粗糙度 、具有导电/ 绝缘交接结构的测量基底 —Au/ CuO 和 ( ) HOP G/ CuO ,并在带导电针尖的原子力显微测量 CT-A FM 平台上建立了简便的一维纳米材料轴 向电子输运性质测量方法. 在大气室温条件下 ,对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性 质进行了定性测量 ,结果表明 ,该碳纳米管呈现金属性. 关键词 : 　一维纳米材料 ;CT-A FM ; I- E 特性曲线 ;碳纳米管 中图分类号 : 　O 646 　　　　　　　　　　文献标识码 : 　A 随着纳米科学的发展 ,小尺寸纳米材料的电学性质研究日益受到人们关注. 特别是一维 ( [ 1 ] 纳米材料由于可用作纳 电子器件的导线及构筑特殊的纳 电子元件 如场效应管 、电子开 [2 ] ) 关 等 ,其轴向电子输运性质研究更备受重视. 关于一维纳米材料电学性质的测量 , 目前方 ( [3～5 ] [6～8 ] ) [9 ] [ 10 ] 法很多 ,如 SPM 法 C T-A FM 、STM ,Break j unction 法 ,Cro ss wire 法 等等. 上 述各种方法虽各具特色 ,但也存在一些局限性. 其中 ,Break j unction 法适合在溶液环境中作单 分子的电学性质检测 ,但对被研究的分子有一定要求 ;而 Cro ss wire 法 ,则需要用一对十分靠 [6 ] [ 11 ] μ 近的金属电极作测量基底 ,例如 , Tao 等 曾利用电子束刻蚀得到一对相互靠近约 2 m 的 Au 电极 ,再由电沉积 - 刻蚀法制备出间隔为 1 nm 的两个 Au 电极 ,将待测的纳米材料组装在 此两金电极间而后测量 ; SPM 法主要是利用 STM 针尖接触于垂直排列的分子 、分子线或金属 纳米粒子之上进行 I- E 测量 ,显然这一方法不适合具有一定长度的纳米材料.