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矿物化学成分分析测试 ——光谱分析 目录 光谱分析法分类 发射光谱分析法概述 发射光谱分析仪器原理、特点及应用 吸收光谱分析法概述 吸收光谱分析仪器原理特点及应用 光谱分析仪器分布（武汉） 光谱分析法 光学分析法是根据物质发射的电磁辐射或电磁辐射与物质相互作用而建立起来的一类分析化学方法。 光谱法是基于物质与辐射能作用时，测量由物质内部发生量子化的能级之间的跃迁而产生的发射、吸收或散射辐射的波长和强度进行分析的方法。 光谱分析法的特点：(1)分析速度较快 (2)操作简便(3)不需纯样品（4）可同时测定多种元素或化合物 （5）选择性好　 （6）灵敏度高　（7）样品损坏少 局限性 光谱定量分析建立在相对比较的基础上，必须有一套标准样品作为基准，而且要求标准样品的组成和结构状态应与被分析的样品基本一致，这常常比较困难。 1.X射线荧光光谱仪 x ray Fluorescence Spectroscope (XRF) 目前，X射线光谱法发展成熟，多用于元素的定性、定量及固体表面薄层成分分析等。 XRF利用样品对x射线的吸收随样品中的成分及其多少而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法. XRF是一种最有效的无损成分分析手段之一 优点 (1)速度快，一般测定一种元素(定量)需10－100秒； (2)可检测固态、粉末、液态样