玉米全生长期叶面积指数收获测量法的改进.pdfVIP

第26卷第8期 农业工程学报 、，01．26No．8 ofthe 189 2010芷8月 TransactionsCSAE Aug．2010 玉米全生长期叶面积指数收获测量法的改进 姚延娟1,2,3，范闻捷1，刘强2，李丽2，陶欣1，辛晓洲2柳钦火2 (1．北京大学遥感与地理信息系统研究所，北京100871；2．中国科学院遥感应用研究所 遥感科学国家重点实验室，北京100101；3．环境保护部卫星环境应用中心，北京100029) 摘要：农作物仝生长期冠层表现不同的结构，常规的叶面积指数测量仪器不能适用于全生长期的叶面积指数测母，提 出改进的收获测蛩法可进行玉米全生长期叶面积指数的测量，并且测鼍结果也具有可比性，该法在减少常规直接测量法 工作量的同时也减少了对玉米的破坏。通过对比不同乍长期单株样本叶面积计算的两种方法，得出二元二次回归法比常 规的形状凶子法计算精度高的结论。同时，分析不同生长期玉米秆所占总面积比例的规律，得}l{进行叶面积指数的准确 测量，苄米秆的表面积必须进行准确考虑。该研究可为同类作物叶面积指数测量提供参考，可以有效推动叶面积指数的 准确快速测蛩及遥感反演的验证工作。 关键词：玉米，叶面积指教，测量 doi：l 002—6819．2010．08．032 0．3969／j．issn．1 中图分类号：TP391A1，TP79文献标识码：A 文章编号：1002—6819(2010)一08—0189—06 00111 in whole Yao methodfor L舢measurementcorll Yanjuan，FanWenjie，LiuQiang，eta1．Improvedharvesting growth ofthe Chinese、Ⅳith stages[J]．TransactionsCSAE，2010，26(8)：189—194．(inEnglishabs打acO 于测量透过冠层的辐射量常用的仪器有SunSCAN， 0引言 21，不同 area 叶面积指数(1eafindex，L趟)可用来反映作 的L～测量仪器适合于不同的观测目标。与直接测量方 物的生长状况，其变化体现了植被生长发育的不同状 法相比，间接测量方法常常低估L越，不同类型的冠层， 态【11，与植被的光合作用、作物蒸发、蒸散等过程密切相 关，是应用于作物监测、估产和病害评价的一个关键的 克服由于聚集所带来的偏差，但间接测量的偏差问题并 生态参数12。3j。准确测量LAI具有非常重要的意义。LAJ 没有根本解决。 通常定义为单位地表面积上的叶子表面积总和的一半【4J， 成行种植是中国许多农作物的种植方式，在玉米生 计算主要分为点上叶面积指数的计算与面上叶面积指数 长的初期，冠层为特别稀疏的结构，如果采用间接的仪 的计算pj。面上叶面积指数的获得主要基于遥感图像的反 器测量法，由于不满足仪器准确测奄的基本条件而使测 演得到，这种方法又称为空间检测法【61，面七LAJ反演的量结果有较大的误差甚至是错误的；随着玉米的生长， 精度验证和不同遥感传感器反演产品的相互比对，都需 冠层的结构特征变为比较均匀的结构，可以用LAJ．2000 要点