辐射测量中的成像效应.PDF

物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 62, No. 12 (2013) 120702 辐射测量中的成像效应* † 程晓舫 辛成运 王鲁平 张忠政 ( 中国科学技术大学热科学和能源工程系, 合肥 230027 ) ( 2013年1月2 日收到; 2013年2月18 日收到修改稿) 明确了辐射的非成像测量和成像测量之间的差异并给出数学表述, 才能够把已经成熟的非成像辐射测量方法 推广至成像测量. 本文从辐射测量的基本公式以及成像下目标微元与传感阵列像素的对应关系出发, 分别建立了关 于辐射的非成像和成像测量式. 根据成像面的存在不会改变辐射传输的事实, 比较非成像测量式和成像测量式后, 可得到成像效应的数学表述. 把成像效应与针孔和透镜两种成像技术结合后的分析指出: 成像效应的主因是成像光 轴角, 辅因是测量天顶角; 辅因作用的大小取决于测量天顶角与发射天顶角的差异度. 关键词: 辐射测量, 辐射测温, 成像效应 PACS: 07.20.Ka, 06.20.−f, 42.79.Pw DOI: 10.7498/aps.62.120702 如果把因成像面的存在而引发的测量差异称为成 1 引言 像效应, 那么这种差异如何进行数学表述? 2) 就针 孔和透镜这两种成像技术而言, 测量中的成像效应 12 34 辐射测量在大气测量 、工业产品探伤 、 又有何差异? 5 6−9 辐射强度测量 、高光谱探测 、CCD 图像测 显然, 只要能够就辐射测量中的成像效应给出 温 10−14 和传统辐射测温 15−20 等领域具有广泛 相应的数学表述, 就可以把已经发展成熟的非成像 应用. 辐射测温法是一种重要而广泛应用的非接 辐射测量方法推广至成像测量. 触测温方法, 基于Planck 辐射定律, 通过物体表面 的热辐射信息来反演温度10−23 , 而热辐射测量 2 辐射能流测量 是辐射测温的基础. 测量辐射可以采用非成像方 式, 也可以采用成像方式. 这两种测量方式既有相 目标表面的辐射会向周围空间发出, 经空间 同之处——把辐射转换成测量信号, 也有不同之 (本文仅讨论真空环境) 传输后形成到达传感器表 面的辐射能流, 传感器把辐射能流转换为测量信号, 处——所谓非成像测量, 是指目标发射的辐射直接 这就是辐射测量的基本描述. 到达传感器表面的测量现象; 所谓成像测量, 是指 24 目标发射的辐射先到达成像面, 再经由成像面传送 由光谱辐射强度I λ θ ϕ 的定义 可得目 至传感器表面的测量现象. 若在成像面上使用成像 标微元面dA 在θ ϕ 方向上微元立体角dω 内的 光谱辐射能流dqλ , 元件(针孔或透镜), 就能在像面上获得被测目标的 清晰影像, 否则只能获得模糊影像. 在成像面上, 又 dq λ dA cos θ · sin θ dθ dϕ ×I λ θ ϕ (1) 有针孔和透镜这两种成像技术可供使用.