SPC统计制程管制(修订版050404版).pptVIP

統計技術之應用 1.市場分析 2.產品設計 3.相依性規格、壽命及耐用性預測 4.製程管制及製程能力研究 5.製程改善 6.安全評估／風險分析 7.驗收抽樣 8. 數據分析、績效評估及不良分析 SPC使用之統計技術 1.品管七手法 2.統計檢定 3.管制圖 4.抽樣計劃 5.變異數分析／迴歸分析 · · · 製程管制系統 製程管制系統 管制圖依 常態分配 計算製程數據分佈 常 態 分 配 管制界限的構成 製程中共同原因與特殊原因之變異 製程中只有共同原因的變異圖示 製程中有特殊原因的變異圖示 第一種錯誤與第二種錯誤(冒險率：α;β) 第一種錯誤與第二種錯誤(α risk ;β risk) 共同原因與特殊原因之對策 管制圖導入流程 管制圖的應用 管制圖的選擇 – R管制圖（平均值與全距） －R管制圖用數據表 －R管制圖用數據表 – R繪圖步驟 – R繪圖步驟 – R管制圖 p 管制圖 (不良率) p 管制圖(不良率) p 管制圖(不良率) p 管制圖繪圖步驟 p 管制圖繪圖步驟 計量值管制圖常用之係數表 管制圖應用之困難 管制圖能解決之問題 製程能力分析 製程能力分析 製程能力等級判斷 6 σ概念： 常態分佈 常態分佈 常態分佈 常態分佈 管 制 圖 表 A、管制圖的判讀法 管制圖之不正常型態之鑑別是根據或然率之理論(又稱小機率理論)而加以判定的，出現下述之一項者，即為不正常之型態，應調查可能原因。 1. 1 點超出從中心線起算 3 個 Sigma之外 。 2. 3 點中有2點分佈於從中心線起算 2 Sigma以上(同側) 。 3. 5 點中有4點分佈於從中心線起算 1 Sigma以上(同側) 。 4. 6 點以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側。 5. 8 點在同一側，但沒有點落在 1 sigma的範圍 (兩側 ) 。 6. 9 點在同一側。 7. 14 點在同一側，分佈呈現上下交替。 8. 15 點分佈於同側，從中心線起算 1 Sigma 的範圍(兩側) 計量值管制圖判讀 計數值管制圖判讀 1. 1 點超出從中心線起算 3 個 Sigma 。 2. 6 點以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側。 3. 9 點在同一側。 4. 14 點在同一側分佈呈現上下交替。 單位缺點數管制圖(u chart) 缺點數管制圖(c chart) 不良數管制圖(pn chart) 不良率管制圖(p chart) 計 數 值 管 制 圖 個別值與移動全距管制圖(X－Rm Chart) 中位值與全距管制圖( －R Chart) 平均值與標準差管制圖( －σ Chart) 平均值與全距管制圖( －R Chart ) 計 量 值 管 制 圖 管制下限 管制上限 中心線 項目 類別 1.少量多樣之生產型態，不勝管制 (可改用製程特性管制)。 2.管制計畫不實際，無法落實。 3.使用SPC前未作充分準備。 例如：製程及管制特性之確定，決定量測方法，數 據如何收集等。 4.欠缺統計技術。 5.統計計算太過繁瑣費時 (可以SPC軟體處理)。 6.量測數據之有效數字位數未標準化。 7.管理階層不支持。 1.經濟性：有效的抽樣管制，不用全數檢驗，不良率 低，得以控制成本。使製程穩定，能掌握 品質、成本與交期。 2.預警性：製程的異常趨勢可即時發現並對策，預防 整批不良，以減少浪費。 3.分辨特殊原因：作為局部問題對策或管理階層系統 改進之參考。 4.善用機器設備：估計機器能力，可妥善安排適當機 器生產適當零件。 5.改善的評估：製程能力可作為製程改善前、後比較 之指標。 1.Ca↓(準確度越低越佳) Ca ＝ －Sc / (T/2) 2.Cp↑(精密度越高越佳) Cp ＝ T/6σ( 雙邊規格) Cp ＝ (Su－ )/3σ或 ( －SL) / 3σ之最小值 (單邊規格) 3.Cpk↑（製程能力越高越佳） Cpk ＝ (1－│Ca│) Cp；單邊規格時，Cpk=Cp。 4.不良率P↓（綜合評價） (1) ZL ＝ ?3Cp（1＋Ca）超出下限PL% ZU＝ 3Cp（1－Ca）超