基本参数法在X射线荧光能谱分析中的应用.pdfVIP

基本参数法在X射线荧光能谱分析中的应用 崔兴柱王焕玉张承模张家宇彭文溪曹学蕾陈勇 梁小华汪锦州高曼杨家卫 (中国科学院高能物理研究所粒子天体物理中心100049) 摘要：介绍了基本参数法在荧光光谱元素定量分析中的应用，并将该方法应用于嫦娥一号X 有效载荷的地面验证实验中，对自制的多种样品进行了定量的分析。 关键词：X射线荧光光谱；基本参数法；一次荧光；二次荧光 0引言 Z射线荧光能谱是一种元素含量的定量分析方法，目前在地质、冶金、医药卫生、深空 探测等很多领域有着广泛的应用。而基本参数法作为一种简单而准确的基体校正方法，．随着 计算机技术的发展，已经成为定量荧光分析中的一种常规手段。 1基本参数法u矗’ 基本参数法是一种根据J射线荧光强度计算的理论公式和一些参数的经验公式来求解 元素浓度的方法。浓度和荧光强度2_．iEI拘转化关系为：G=K‘MS。其中：j为待测元 素：Ⅳ为与z荧光谱仪的仪器因子相关的校正因子；，是待测元素特征X射线强度：彤为基 体效应(即元素间的吸收增强效应)；S与样品的物理化学形态以及元素的化学态有关。在 基本参数法的理论计算中，只考虑一次荧光和二次荧光的强度，并将计算得到的各成分的相 ， ． 对荧光强度矽和测量得到的相对强度彤进行对比，并按照q=(足，／Ry)×q修正。 ， 日为估计初值。重复修正迭代过程，直到e收敛。这时的测量相对强度和理论计算的相对 强度的比接近于1，即测量的能谱和理论能谱大致一致。 荧光强度的理论计算： 一次荧光： 图1．一次X光荧光示意图 波长为九、强度为，的入射X光厶穿过试样表面至a处衰减为 3lO (1) L=Lexp(-从_∥csc旃) 其中从-为试样S对波长为入的入射光的质量吸收系数；p为试样5的密度·其他参 量如图l所示。 到达a处的入射光呗厚度为如的小体积a内浓度为G的j元素吸收的部分为 G朋-patcsc (2) j元素受激发后发射的X射线荧光为 (3) Ic=IvElCipi。≈,oatcsc萌, 其中激发因子历为 互=以Z哆 (4) 丘，￡和口，分别为j元素的吸收跃迁因子、谱线分数和荧光产额。 进入探测器准直部分的荧光为da／4j『，da为探测器准直所张的立体角。 在8处发射的j元素的荧光在射出试样表面前要经过试样吸收衰减为 csc≯2)df2／4n L=I,exp(-p,。^pt 定义： ／Is=肛．名CSCf6I=肛．名 办 (6) 琏=p蠊?csc≯2 (7) It,’=∥+∥。ps七弘： (8) 由(Z)一(5)和(6)式，小体积8处嗣J兀索由入射Z光』坡匕严生的祓探捌器j蛋收的 X荧光为： 吒=厶e钒厣c办等exp(-it；,a)dt(9) ， ‘ 对厚度从0到无穷积分得到： Pi,JI-11C』E (1。) csc孬。d40万It段s,3· 定义： Gj=互等csc办 (11) 一般来说。对特定谱仪甜为不变量