SIMS的研究和应用元素及同位素分析Riciputi等-仪器信息网.PDF

4 SIMS 的研究和应用 4.1 元素及同位素分析 Riciputi 等[11]利用 SIMS 研究矿物中基体效应对轻质元素氧、 碳、硫同位素比测量的影响。通过对不同能量的二次离子和不同类型 的一次束受基体效应影响的研究，建立了几种经验模型来校正质量歧 视。 宋玲根等[12]利用 CE TOF-SIMS 对金属器物中的铅同位素比 值进行测量铅同位素比值的测量精度优于 1%。同时还能获得化合物 组成的信息，但对非金属物质不适用。 游俊富等[13]利用CAMECA IMS-3F 和 IMS-300 离子探针，对 Y O 中的Fe 、N i 、Cu 以及Al O 中的B 进行同位素稀释二次离子质 2 3 2 3 谱法研究。结果表明，最佳稀释比接近 1.0。对测量影响最大的是多 原子离子的干扰，为此要尽量烘干样品、提高真空度和分辨率。 G. D. Layne 和K. W. Sims[14]利用IMS1270 对火山岩中钍同位素 232 230 比值 Th/ Th 进行分析，并对热电离质谱(Thermal ionization mass spectrometry，TIMS)和SIMS 进行了比较，认为在离子化率、分析时 间、运行精密度、重现率等方面 SIMS 均优于 TIMS 。SIMS 可以实 现对锆石晶体(小的包裹体) 的无损伤的原位同位素分析。SIMS 可以 测定一些钍元素含量低的样品。 Hiroshi Hidaka[6]利用IMS-3f(原位测量)和ICP-MS(定量分析)研 究Oklo 和Bangombe 自然裂变反应中Ru 同位素。两种仪器联合使用 可以有效地研究裂变核素的运移(无论是微观还是宏观尺度) 。实验证 明，Tc/Ru 的分离发生在临界状态的早期阶段，Ru 同位素没有向周围 岩石扩散。 林杨挺等[15]总结认为离子探针质谱已成为陨石矿物微量元素 研究的主要分析手段。采用能量过滤消除复杂分子的相互影响，通过 测量微量元素二次离子与参照主元素二次离子的信号比，根据标准物 的有关二次离子产率系数，可计算出待分析矿物的微量元素组成。除 微量元素外，离子探针主要用于同位素组成分析，一些较大颗粒的碳 化硅和石墨(几微米)可做多元素同位素分析和化学组成分析。 国外利用高灵敏度、高分辨离子探针(Sensitive high resolution ion mciroprobe ，SHRIMP) 成功测定了月球角砾岩中锆石晶体内U/Pb 的 原位年代[16]。我国研究人员也利用SHRIMP 进行U/Pb 的原位定年 的研究工作，中国地质科学院2001 年引进国内第一台SHRIMPÊ [17]。 王先锋等[18]应用TOF-SIMS 分析了石笋微层物质的成分，SIMS 对自然样品的气候及环境参数高分辨的测定将有力促进环境地质学 的发展。SIMS 也可以用来分析矿物中的氢含量[19]。 1995 年ISO 启动了ISO14237 “用均匀掺杂参考物质测定硅中硼 原子浓度”项目，作为SIMS 第一个的ISO 标准，并组织了首轮巡回 测试，我国的测试结果与平均值仅差 6.4% [20]。 4.2 颗粒物微分析研究 M. H .Anna [21]利用Phi-Evans’s TRIFT TOF-SIMS 研究放置在导 电基底(如硅片、金属片)上的矿物颗粒以及毛发纤维等微小绝缘物 质。研究发现，在控制一次离子注入剂量低于静态 SIMS 限制(约 12 13 2 10 ~10 离子/cm )下，通过调节样品台电压，可以找到一个合适的值， 使二次离子大多来自待分析样品表面，并克服了基体效应和其它杂质 的影响。 Ritavan Ham 等[22]研制了一种在绝缘物质上进行TOF-SIMS 分 析气溶胶的装置。实验表明，与 EPMA 、PIXE 相比，TOF-SIMS 可 以容易地同时检测低元素序数(Z 11) 元素离子、中 Z 元素离子 (11Z82)，以及分子碎片离子(如HSO4- 、NO2- 、NH4-) 。