拉曼面扫描表征氮掺杂6H-SiC晶体多型分布-无机材料学报.PDFVIP

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拉曼面扫描表征氮掺杂6H-SiC晶体多型分布-无机材料学报

第27 卷 第6 期 无 机 材 料 学 报 Vol. 27 No. 6 2012 年6 月 Journal of Inorganic Materials Jun., 2012 文章编号: 1000-324X(2012)06-0609-06 DOI: 10.3724/SP.J.1077.2012.00609 拉曼面扫描表征氮掺杂 6H-SiC 晶体多型分布 1,2 1 1 1 1 郭 啸 , 刘学超 , 忻 隽 , 杨建华 , 施尓畏 (1. 中国科学院 上海硅酸盐研究所, 上海200050; 2. 中国科学院 研究生院, 北京 100049) 摘 要: 采用物理气相传输法(Physical Vapor Transport, PVT)沿[0001]方向生长了一个直径为 2 英寸的氮掺杂 6H-SiC 晶体. 采用拉曼面扫描方法对晶体中多型的分布进行了细致表征, 研究了 SiC 晶体生长过程中多型的产生 和演化. 在6H-SiC 晶体中观察到了15R-SiC 和4H-SiC 两种多型. 在拉曼面扫描得到的晶体多型分布图上观察到了 两类次多型结构区域, 一类是继承其生长界面上对应的次多型结构形成的次多型结构区; 另一类是由温度、压力等 生长条件波动导致在6H-SiC 主多型中出现的 15R-SiC 多型结构区. 第一类次多型结构区中掺入的氮元素较多, 载 流子浓度较高, 并且随着晶体生长不断扩大; 第二类次多型结构区对晶体结晶质量的影响较小, 且提高生长温度 可以抑制 15R-SiC 多型结构. 关 键 词: 拉曼; 碳化硅; 多型; 面扫描 中图分类号: O761 文献标识码: A Characterization of Polytype Distributions in Nitrogen-doped 6H-SiC Single Crystal by Raman Mapping 1,2 1 1 1 1 GUO Xiao , LIU Xue-Chao , XIN Jun , YANG Jian-Hua , SHI Er-Wei (1. Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China; 2. Graduate University of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China) Abstract: Nitrogen-doped 6H-SiC crystal with t

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