双应力步进加速试验设计及可靠性统计分析指数分布33.pdfVIP

12 卷 第 2 期 数理统计与应用概率 Vol. 12 ,No. 2 1997 年 6 月 Mathematical Statistics and Applied Probability J une 　 1997 双应力步进加速试验设计及可靠性 ( ) 统计分析 指数分布 张 　皓 　温宝全 　张智丰 (杭州电子工业学院 ,杭州 ,310037) ( ) 摘　要 　本文对于一种在两种应力 电压应力和温度应力 的作用下的电子产品 ,当它的 寿命服从指数分布时 ,提出双应力步加试验的试验设计及对所获得的失效数据进行可靠性的 统计分析 ,并用自行编制的计算机软件完成了实例分析。 关键词 　双应力 ,步进加速 ,可靠性 ,统计分析 ,计算软件. 1 　引　言 如果我们研究的产品同时承受两种应力 ———电压应力和温度应力 ,并且假设在实际 中以电压应力为主 ,温度应力为辅 ,我们需要解决的问题是在正常电压应力 V0 时产品的 可靠性指标分析 ,本来可以利用步加试验解决问题 ,但由于高可靠、长寿命的产品 ,即使采 用了应力加速寿命试验 ,试验时间仍然较长。如果过份加大各加速应力水平以加快产品 的失效 ,又担心不能保证产品的寿命分布满足原先假定的分布规律。为此 ,本文提出 :在 对电压应力做步加试验时 ,提高温度应力 T ,这样使得两个应力都加速 , 既能促使产品失 效加快发生 ,又保证了寿命分布仍满足指数分布情况下 ,促使产品的失效加速。 2 　基本假定 ( ) 1 电子元器件在工作状态同时承受两种应力作用, 电压应力 V , 温度应力 T 。 ( ) 2 为元器件工作状态正常应力 : 电压应力 V 0 ; 温度应力 T0 。加速应力 V 1 V 2 …V m ; 温度应力 T 1 T2 …Tp . 在任何两种应力组合 V T 的作用下:元器件的寿命 X 都服从分布 : i j ij 1 x ex p ( - ) , x 0 θ θ ( θ) ij ij ( ) f x , ij = 1 1 0 , x 0 　　 收稿日期 :95 年 1 月 12 日,收到修改稿日期 :95 年 10 月 18 日. 本文得到国家与浙江省自然科学基金的资助 © 1995-2004 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.