测试系统技术课件作者郭军第1－8章节第3章节.pptVIP

　　电荷平衡式V/F转换电路的设计思路基本和积分复原式一样，也是通过控制积分电路的充放电来得到输入电压与输出电压大小相一致的方波。当Rin和COS精度较高时，频率输出可严格地与输入电压成比例，从而比较理想地实现了电压到频率的转换。目前大多数集成V/F转换器都采用该方案。 　　现在市面上的V/F转换器种类很多，如Analog Devices公司的A/DVFC32，A/D650;美国国家半导体公司的LM*31系列；BB公司的VFC32，VFC62等。每种转换器都有它自己的特点，在选用时应从实际需要出发，选择适合项目需要，性价比较高的芯片。 3.2 数据采集设备 3.2.1 A/D变换基本原理与类型 　　1. 逐次比较型 　　如图3.11所示，逐次比较型A/D转换器由一个比较器和D/A转换器通过逐次比较逻辑构成，从MSB开始，顺序地对每一位将输入电压与内置D/A转换器输出电压进行比较，经n次比较而输出数字值。其电路规模属于中等。其优点是速度较高、功耗低，在低分辨率(12位)时价格便宜，但高精度(12位)时价格很高。 图3.11 逐次比较型A/D转换器原理图 　　2. 并行比较型/串并行比较型 　　如图3.12所示，并行比较型A/D转换器采用多个比较器，仅作一次比较而实现转换，又称Flash(快速)型。由于转换速率极高，n位的转换需要2n－1个比较器，因此电路规模也极大, 价格也高，只适用于视频A/D转换器等速度特别高的领域。 　　串并行比较型A/D转换器在结构上介于并行比较型和逐次比较型之间，最典型的是由2个n/2位的并行型A/D转换器配合D/A转换器组成，用两次比较实现转换，所以称为Half Flash型。还有分成三步或多步实现A/D转换的转换器叫做分级型A/D转换器，而从转换时序角度又可称为流水线(Pipelined)型A/D转换器，现代的分级型A/D转换器中还加入了对多次转换结果作数字运算从而修正特性等功能。这类A/D转换器速度比逐次比较型高，电路规模比并行比较型小。 图3.12 并行比较型A/D转换器原理图 　　3. 电容阵列逐次比较型 　　电容阵列逐次比较型A/D转换器在内置D/A转换器中采用电容矩阵方式，也可称为电荷再分配型转换器，其原理如图3.13所示。一般的电阻阵列D/A转换器中多数电阻的阻值必须一致，然而在单芯片上生成高精度的电阻并不容易。而现在在MOS电路中可以较容易地制造出精密的小容量电容，如果用电容阵列取代电阻阵列，则可以用低廉成本制成高精度单片A/D转换器。现在的逐次比较型A/D转换器大多为电容阵列式。 图3.13 电容阵列逐次比较型A/D转换器原理图 　　4. 积分型 　　积分型A/D转换器的工作原理与并行比较型、分级型和逐次比较型等直接转换型的A/D转换器有根本区别。积分型A/D转换器通过积分电路把线性模拟电压转换成脉冲信号，在这段时间内通过计数器对标准时钟脉冲计数，计数值反映了模拟电压的大小。由此可见，这种转换是把时间作为中间变量的一种间接转换。根据一次转换中积分斜率变化的次数，积分型A/D转换器又分成单积分、双积分和四积分等类型。其优点是用简单电路就能获得高分辨率，但缺点是由于转换精度依赖于积分时间，因此转换速率极低。图3.14给出了双积分型A/D转换器的原理图。初期的单片A/D转换器大多采用积分型，现在逐次比较型已逐步成为主流。 图3.14 双积分型A/D转换器原理图 第3章　前向通道设计技术 尚辅网 / 第3章　前向通道设计技术 第3章 前向通道设计技术 3.1 前端信号处理模块 3.2 数据采集设备 习题与思考题 3.1 前端信号处理模块 3.1.1 测量放大模块 　　目前使用最广泛的测试系统的接口为模数(A/D)转换电路，而经传感器转换后的电量，如电流、电压等信号的幅度往往都很小，很难直接进行模数转换，或者虽然可以进行转换，但与A/D转换的输入范围不匹配，浪费了A/D的量程或无法达到相应的测量分辨率。在这些情况下,必须对这些由传感器输出的被测电信号进行放大处理，同时完成与测试系统接口电路的阻抗匹配，并抑制在转换过程中产生的噪声，这些工作都需要在测量放大模块中来完成。 　　在实验室等电磁干扰不严重的地方，可以选用一般的通用集成放大器来构成放大电路，完成被测电流、电压信号的放大，电平转换。 【例 3.1】 已知一传感器的输出信号为0～20 mV的电压信号，而测试系统接口A/D系统的量程为0～5 V，设计一套测量放大模块，完成两者之间的信号匹配。 　　分析：输入信号和输出信号都是电压信号，而且都是以0 V为基准，因此不涉及电平转换问题，又根据放大模块对应的输入输出范围，只需一个同向放大器即可完成。 　　答案：