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光谱学与光谱分析990123 光谱学与学谱分析 SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS 1999年 第19卷 第1期 Vol.19 No.1 1999 ICP-AES法分析Au-Be合金 邱红莲　刘继升　杨　炬 摘　要　研究了用ICP-AES法测定Au-Be合金中Be及萃取Au后测定微量Pt、Pd、Rh、 Ir、Ag等25个杂质元素的方法。元素间的干扰用等效浓度法校正。杂质元素标准加入 回收率为96～107%，相对标准偏差为1.7%～12%。取2.5 g试样时相对分析下限为1×10 －4 －4 ～5×10 ％。测定合金成分Be时相对误差不大于2%。 主题词　电感耦合高频等离子体原子发射光谱，　铍，　合金分析 Emission Spectrometry Honglian QIU,Jisheng LIU and Ju YANG －5 －4 to 2×10 in 2.5 g sample varied from 5×10 analysis 　 引　　言 　　电子工业用的Au-Be合金需要分析杂质元素及Be含量。ICP-AES法是多元素同时测 定的分析技术，ICP作激发光源稳定性好，基体干扰小。ICP-AES法用于分析Au-Be合 金中杂质元素及合金成分Be的含量应是较好的选择，但未见文献报道。本文作者用乙 醚萃取二次分离金测定微量杂质元素；另取一份样品王水溶解后直接测定Be。并对共 存元素干扰进行了研究，拟定的分析方法已用于相关样品的分析。 1　实验部分 file:///E|/qk/gpxygpfx/gpxy99/gpxy9901/990123.htm（第 1／4 页）2010-3-22 20:15:05 光谱学与光谱分析990123 1.1　仪器及测定条件 　　ICPQ-1012型多通道等离子体光谱仪，CTM-50扫描单色仪。光谱仪测定折衷条件 为：入射功率1.0 kW，反射功率近于零，氩气流量(L／min)：冷却气12.5、辅助气1.0、 载气0.9，观察高度15 mm，积分时间20 s。每次测量积分3次，玻璃气动雾化器。分析 线波长列于表1。 表1　分析线波长 元素 波长／nm 元素 波长／nm Pt 265.95 Mg 279.55 Pd 363.47 Al 396.15 Rh 343.49 Ca 393.37 Ir 224.27 Zr 339.20 Ag 328.07 B 249.77 Au 242.80 Co 228.62 Cu 324.75 Cr 205.55 Fe 259.94 V 311.07 Ni * Cd 226.50 231.60 Pb 220.35 As 193.70 Sb * Be 23