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试验引起CVT损坏论文：试验引起CVT损坏的原因及预防措施 摘要：cvt因结构和工作原理的特殊性，常常会因试验方法不当而损坏。从cvt的基本原理入手，分析自激法测量cvt的介损和电容量以及现场局部放电试验损坏原因，并提出在试验中控制所加电压和注入电流的方法来避免cvt的损坏，对提高cvt的运行可靠性有重要的意义。 关键词：cvt；中间变压器 ；谐振 ；控制电压 引 言 cv t（电容式电压互感器）因结构和工作原理的特殊性，试验方法不完善甚至错误，导致现场cvt试验损坏。但近年来现场试验又出现了新方法，导致cvt因试验而损坏的情况仍时有发生。故有必要进一步分析不同试验方法引起cvt损坏的原因和预防措施。 1 cvt的结构及工作原理 1.1结构及部件作用 结构及部件原理见图 1。由两部分构成，①点画线内的电容分压器部分，②虚线内电磁单元部分。c1与c 2串联构成分压器，经分压器后c2上的电压在（10 ～ 20）kv，通常称为中间电压。 电磁单元部分由补偿电抗器l、中间变压器t、补偿电抗保护器f2和阻尼器r1构成，限压器f1有些厂装，有些厂不装，现多数趋于不装了。t将中间电压降为100/3v和100 v，且它的短路阻抗起电感作用，同补偿电抗一起构成对电容电流完全补偿的电感支路。f2是l上电压的保护器，通常将电压限制在3～5kv，从结构上分带间隙的电阻器和氧化锌避雷器两种。r 1用于阻尼cvt铁磁谐振，从结构上分谐振型和速饱和型。 1.1.2工作原理 cv t 经电容分压器降压后，再由 t 降压获取 测量和保护信号，故cvt测量准确首先要保证 u 2电压稳定。分压比不变的条件是 i c1= i c 2，即 i = 0，即无技术措施时，电容分压器无负载能力。解决这个问题的技术措施有两：一是利用电容电流与电感电流互补的关系，加装电感补偿 ；二是提高中间电压，减小 i / i c1的值，这就是cvt不直接将电压分压到所需的 100 v 或 100/ 3 v 的原因。图 1 的 t 的等值电路见图 2 [1]，z 为外部负荷阻抗 ，z m 为中压变励阻抗，因z m远大于z， 忽略z m。 x k = ω（l + l t1 + l t2），r k = r l + r t1 + r t2，x c = 1 / ω （c1+ c2）， k = c1/（c1+ c2），可得 u 2 = k u 1 -（r k + j（x k - x c ））i。 （ 1 ）从式（1）得出[1]， 要使cvt在一定负载电流范围内的输出电压变化最小，就必须满足：x k = x c。 （ 2 ） 同时必须使 r k = r l + r t1 + r t2 尽可能地小，故l和t用的导线截面均较大。式（2）就是cvt工作的理论依据，即谐振发生的条件式。正因这一特殊条件的破坏，导致现场试验易损坏cvt。 2自激法测量cvt存在的问题及解决办法 2.1 存在的问题 自激法依据标准为 dl474.3-92 《现场绝缘试验实施导则 - 介质损耗因数 tan δ 试验》，标准给出的测量cvt的 c1和 c2的接线图和参数见图 3 [2] 。 这两个测试电路中都存在着将 l 忽略的问题，故电路变成不谐振安全电路。在图3的b中则所给试验电压值 u s =10 kv，是严重的错误。正确的自激法测量电路及等值电路见图 4 [3]。 从图 4（a）、（b）看出，有了 l 后，自激法测量电路就是一个电感与电容的串联电路。因cvt工作原理要求满足式（2），故由图 4 可知易破坏cvt的情况为：大变比（c2 c1）（ ≥ 110 kv）测c2时；小变比 （c1 c2）（≤ 35 kv）测 c 1。 图（3）（b）试验电压加10 kv，实测若发生谐振，因t二次侧加很低的电压（如u s2 = 10 v）就可使u c2 =10 kv，这时因 t 高压侧电压很低 （ u 1 =1 300v），10 kv 电压的绝大部分就加到了 l 和 f 2 上，而f 2 通常只能承受 3 kv 1s， 此时 f 2 必烧。 2.2 解决的办法 cvt电容及介损的测量，应本着电容量测量为主，介损测量为辅的原则，着重测准电容量。方法① [3] ： 采用自激法测量，但严格控制所加电压，即不论是测 c1还是 c 2，其所加试验电压均控制 ≤ 3 kv，并限定输入的电流 3.3 倍运行值。因cvt在试验中t 和阻尼器都是非线性参数，很难控制 c2（t 、l等）上的过压倍数。在试验时易发生 c2部分元件击穿 ，t 、阻尼器和补抗保护器损坏。除 t 短路引起的无二次电压易于发现外，其它部件损坏cvt并无明显异常，其故障不易发现，只有做铁磁谐振试验和准确度试验才能发现，即这类故障具有很大的隐蔽性，其危害也就更大。 3.2解决的办法 cvt现