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可靠性测试规范1
可靠性试测试规范
深圳优思伟业通信科技有限公司 文件编号:
文件编号: 可靠性测试规范 版 本: 生效日期: 页 码: 1 测试项目:
编号 项目 测试内容
5.5.1
ESD(静电测试) 测试环境:室温(20~25° C);
样机数量:2PCS
测试设备:静电放电抗扰度测试仪
测试条件:+/-4kV~+/-8kV。
测试目的:测试样机抗静电干扰性能
试验方法:将样机设置为开机状态放于静电测试台的绝缘垫上,并且用充电器加电使手机处于充电状态(样机与绝缘垫边缘距离至少10cm),使手机处于通话状态。打开静电模拟器,调节放电方式,分别选择+/-4kV( 接触放电),+/-8kV( 空气放电),对手机指定部位连续放电10 次,并对地放电。每做完一个部位的测试,检查手机功能、信号和灵敏度,并观察手机在测试过程中有无死机,通信链路中断,LCD显示异常,自动关机及其他异常现象。
试验标准:在+/-4Kv接触放电和+/-8Kv空气放电时出现任何问题都要被计为故障。
5.5.2
按键寿命测试 测试环境:室温(20~25° C);
测试样机:2PCS
测试设备:按键寿命测试仪
测试方法:将手机设置成开机状态固定在测试夹具上,导航键及其他任意键进行?30 万次按压按键测试。进行到 3 万次、5 万次、8 万次、10 万次时各检查手机按键弹性及功能一次。实验中被测试的键的选择根据不同机型进行确定并参考工程师的建议,应尽量不重复,尽可能多。
试验标准:手机按键弹性及功能正常。
5.5.3
翻盖寿命测试 测试环境:室温(20~25° C);
测试目的:翻盖寿命测试
测试数量:4 台手机。
测试方法:将手机设置成开机状态,固定在测试夹具上,进行10万次开合翻盖测试。进行到3 万次、5万次、8万次 、10万次时进行手机翻盖弹性及功能一次。并做好每次检验相关记录;
试验标准:翻盖打开/合闭顺畅,转轴无异响,结构件无裂开和缝隙,功能无异常,排线无断裂和断开和其它异常;
5.5.4
滑盖寿命测试 测试环境:室温(20~25° C);
测试目的:滑盖寿命测试
测试数量:4 台手机。
测试方法:将手机设置成开机状态,固定在测试夹具上,进行?10万次滑盖测试。进行到3 万次、5万次、?8万次 、10万次时进行手机滑盖手感及功能一次。并做好每次检验相关记录;
试验标准:滑盖打开/合闭顺畅,滑轨无异响,结构件无裂开和缝隙,功能无异常,排线无断裂和断开和其它异常;
可靠性测试规范
版 本:
页 码:
5.5.5
温度冲击测试 样品数量:2PCS
测试环境:低温:-20° C ;高温箱:+60° C
测试高备:恒温恒湿测试箱
测试目的:手机在高温度和低温度的工作状况;
试验方法:将手机带电池设置成关机状态先放置恒温恒湿测试箱内持续48小时,分别将温度设置为—20°C和60°C每两小时温度循环一次,共循环24次。并每两小时检验一次并做好相关记录,
试验标准:手机表面喷涂无异变,结构无异常,功能正常,可正常拨打电话
可靠性测试规范
深圳优思伟业通信科技有限公司 文件编号:
文件编号: 可靠性测试规范 版 本: 生效日期: 页 码: 测试项目:
5.5.6
低温功能测试 样品数量:2PCS
测试高备:恒温恒湿测试箱
测试环境:-20° C
测试目的:手机在低温应用性功能测试
试验方法:将手机处于关机状态,放入恒温恒湿测试箱内的架子上。将温调置—20°C持续 24 个小时之后,取出,并放置 2 小时,恢复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。并做好相关记录。
试验标准:手机电性能指标满足要求,功能正常,外壳无变形。
5.5.7
高温功能测试 样品数量:2PCS
测试高备:恒温恒湿测试箱
测试环境:60° C
测试目的:手机在高温应用性功能测试
试验方法:将手机处于关机状态,放入恒温恒湿测试箱内的架子上。将温调置60°C持续 24 个小时之后,取出,并放置 2 小时,恢复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。并做好相关记录。
试验标准:手机电性能指标满足要求,功能正常,外壳无变形。
5.5.8
高温高湿参数测试 样机数量:2PCS
测试环境:45° C,95%RH
测试高备:恒温恒湿测试箱
测试目的:高温高湿应用性性能测试
试验方法:将手机电池充满电,手机处于开机状态,放入恒温恒湿测试箱内的架子上。持续
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