A FAULT DETECTION SENSOR FOR CIRCUIT AGING USING DOUBLE-EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOP研究.pdfVIP

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2017-12-19 发布于广东
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A FAULT DETECTION SENSOR FOR CIRCUIT AGING USING DOUBLE-EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOP研究.pdf

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、，01．30No．1 JOURNALOFELECTRONICS(CHINA) February2013 A FAULT DETECTION SENSOR FOR CIRCUIT AGING USING DOUBLE．EDGE．TRIGGERED FLIP．FLOP YanLuming LiangHuaguo HuangZhengfeng LiuYanbin (SchoolD，ComputerandInformation，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009，China) (SchoolofElectronicScience＆AppliedPhysics，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009，China) Abstract Innanoscaletechnology，transistoragingisoneofthemostcriticalproblemsthatimpacton thereliabilityofcircuits．Agingsensorisagoodonlinewaytodetectthecircuitaging，whichperforms duringtheoperatingtimewith noinfluenceofthenormaloperationofcircuits．Inthispaper，aDon— bl~edge—triggeredDetectionSensorforcircuitAging(DSDA)isproposed，whichemploysdatasignalof logiccircuitsasitsclocktocontrolthesamplingprocess．ThesimulationisdonebyHspiceusing45nm technology．Theresultsshow thatthistechniqueisnotsensitivetotheprocessvariations．Theworst caseofthedetectionprecisionismorethan80％ underthedifierentprocessvariations．Itcandetect agingfaulteffectivelywiththe8％ powercostand30％perofrmancecost． Keywords Circuitaging；Faultdetection；Sensor；Doubl~Edge—TriggeredFlip—Flop(DETFF) CLC index TN406 DOI 10．1007／s11767—013—2126—2 I．Introduction niqueisrequired firstly． Asthedevelopmentofsemiconductortechnol— In recentyears，manyresearchershaveofcused ogy，transistoraginghasbroughtmorechallenges on the aging detection technique．Theproposed tothedesign ofrobustcircuitsin thenanometer methodshave been doneatdevice level，circuit technology．Therearemanymechanismsthatcould level，and system leve1．Tr ansistor aging is a long-term process．In the processofaging，the resultinthetransistoraging，suchasNegative／ Po