无关位在增加测试向量分组长度上的应用.pdfVIP

201 第37卷第2期 计算机工程 1年1月 2011 、，01．37 No．2 ComputerEngineefing January 文献标识码：A 中图分类号：TP33l·l ．．·开发研究与设计技术· 文章编号：lo吣—3428(2011)o扣m266一13 无关位在增加测试向量分组长度上的应用 杨静8，邝继颅“，尤志强8 (湖南大学a．软件学院；b．计算机与通信学院，长沙4l0082) 摘要：针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷，提出一种充分利用测试向量巾的无关位增加测试向量分组长度的方法。 由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量，通过分析测试向量与响应向量之间的关系，给出一些启发式规则并构建相应 的有向图，用深度优先搜索方法查找出P)(M个有向l冬l的最长公共路径。实验结果表明，最大测试分组中的向量数平均增加了2．2个。 关健词：无关位；未知位；内建自测试；可测性设计 of CareBitsin of Don’t Application IncreasingLength r】1estVbctor Groups You YANG Ji-shunl Jjn矿，KuANG zhi-qianga (a．SchooIofSoftware：b．Sch001 atthedefectthatBuild—In difficultt0detecttheanti-啪domtest amethodtomal(e IAbstmctlAiming Self．Test(BIsT)is fault，thispaI)erpresentS full to oftest Vectorsofinterior are fmma useofdon’tcarebitsoftestvectorsincreaseme nodes length gmups．Theresponse generatedgiVen circuitanditstestvectorswhichincludedon’tcarebits．Directedarebuiltbasedonsomeheuristicrulesanda isfound gr印hs longestpublicpatll by thebenchmarkcircu{ts thatthenumberof inthe test search resuItson demonstrate Vectors usingdepth一6rstaIgo—thm．Experimental