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半导体光催化基础 第一章 半导体光催化物理基础 第二讲
第一章 半导体光催化物理基础 第二讲 1.5 半导体中载流子的统计分布与费米能 1.5.1 费米(Fermi)—狄拉克(Dirac)统计分布 式中EF称为费米能级或费米能量, k—玻尔兹曼常数,T—绝对温度。EF是一个非常重要的物理常数,它和温度、半导体材料的性质、导电类型、杂质的含量及能量零参考点的选定等因素有关。只要知道了EF的数值,在一定温度下,电子在各能级上的统计分布就完全确定。对于一个确定的半导体材料,EF和k都是常数,当温度一定时,对于任意能级E都可算出该能级被电子占据的几率f,下面分两种情况进一步讨论费米能级的物理意义。 T=0 当EEF时,(E- EF)0,则(E-EF)/kT→-∞,而e-∞→0,所以,f≈1。 在绝对零度时,EF以下的所有能级被电子占据的几率都等于1,即所有能级100%被电子占据。 当EEF时,(E- EF)0,则(E-EF)/kT→∞,而e∞→∞,所以,f≈0。 费米能级以上的所有能级被电子占有的几率都等于零,即全部是空的。 绝对零度时,虽然所有电子的热运动停止,但并非是所有的电子都占据零能级。根据能量最低原理和泡利不相容原理,电子只能从最低能态逐次向高能级填充,直到全部电子填充完为止。显然,填满电子的最高一条能级就是费米能级EF,其能量可达几个电子伏特,比平均热动能3/2kT≈0.03eV(T=300K时)大得多。 (2)T0 当(E-EF)kT时,e(E-EF)1,所以f很小。 当(E-EF)= 0 时,e(E-EF)=1,所以f=1/2。 当(E-EF)kT时,e(E-EF)1,所以f≈1。 即言当E极低于EF时(低几个kT以上)时,f≈1,与绝对零度情形相似。当E远高于EF时,也和绝对零度时一样,高于几个kT以上的能级都是空的,只有|E-EF|≈kT附近时,f从1很快减小到零。 当T0时,费米分布函数如图1.14中曲线(2)、(3)所示。 比较T0的曲线和T=0的折线可以看出: 在能量极高和极低部分,两条曲线基本上是一致的,只有在EF附近kT范围内,能级为电子占据的情况才有较为显著的变化。当温度升高时,EF下面能级(离EF约在kT距离范围内)上的电子由于热运动而跃入EF以上的空能级中,因而使EF以下能级被电子占据的几率小于1。而EF以上原来空着的能级也被少数来自下面的电子占据,因而占据几率也就大于零了。显然,因热运动的平均能量为kT数量级(室温时,大约为0.03eV),很低能级上的电子不可能借热运动跃迁到EF以上的能级中,只有EF以下kT范围内能级上的电子才有可能跳到EF以上的能级中去。温度越高,kT越大,跃迁到EF以上能级的电子数目也就越多,曲线也就更趋于拉直。 图1.14(2)、(3)两条曲线分别表示两个不同温度(T2T1)时费米分布函数曲线的形状变化。 1.5.2 导带电子与价带空穴统计分布的一般表达式 1.6 半导体费米能级和载流子浓度计算 导带电子浓度和价带空穴浓度的基本表达式 半导体共有化电子的量子态数目表达式 式中:V是半导体的体积,E-是导带底能量值,m-*是导带电子的有效质量,h是普朗克常数。 1.6.2 本征半导体的费米能级和载流子浓度 1.6.3 杂质半导体的费米能级和载流子浓度 掺杂半导体中的载流子来源于本征激发和杂质电离。 n型半导体中电子浓度大于空穴浓度,而p型半导体中,空穴浓度大于电子浓度。 杂质半导体中的载流子有多数载流子和少数载流子之分。前者一般称为多子(Majority),后者称为少子(Minority)。 2、掺杂半导体中多数载流子浓度 3、少数载流子浓度 4、掺杂半导体的费米能级 1.6.4 费米能级的物理意义 (1)在半导体的能带中,不一定确有费米能级EF这样的能量状态可允许电子去占据。它只不过是决定各个能级上电子或空穴统计分布的一个参量。各个能级都以EF为标准,由该能级与EF的相对位置决定电子在它上面的分布几率。 (2)费米能级EF非常直观地反映了半导体中电子填充能带“水平”的高低。从费米分布函数可以看出,凡是EF以上的能量状态基本上是空的,即没有或很少有电子占据这些能级;而EF以下的能量状态则基本上是被电子填满的。 (3)费米能级EF在能带中位置的高低,可以决定半导体中两种载流子的比例。 (i) 当EF正好在禁带中央时:n0=p0=ni,n0/p0=1(本征半导体) (ii)?????位于禁带上半部:n0/p01,EF越靠近导带底E-,n0/p0的比值就越大(n型半导体) (iii)????位于禁带下半部:n0/p01,EF越靠近价带顶E+,n0/p0的比值就越小(p型半导体) (4)费米能级的位置不仅是半导体导电类型的标志,而且也是掺杂浓度的标志。掺杂浓度越高,越靠近导带或价带。掺杂浓度越低
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