利用线阵CCD非接触测量物体的角度.doc

利用线阵CCD非接触测量物体的角度 /,(LS)2007年第1期 \ 安验室科学2007年2月出版 利用线阵CCD非接触测量物体的角度 贺喜齐龙 (天津大学精密仪器与光电子工程学院300072) 摘要:介绍两种分别利用单像敏阵列及彩色线阵CCD测量物体角度的原理和方法,并初步讨论 影响其测量精度的因素及注意事项. 关键词:彩色线阵CCD;角度测量 CCD(ChargeCoupledDevices)电荷耦合器件是 二十世纪七十年代初发展起来的新型半导体集成光 电器件.经历了三十多年的发展,CCD元件及其应 用技术的研究取得了巨大的成就,特别是在图像传 感及非接触测量领域,进展更为迅速.本实验介绍 利用线阵CCD对物体角度进行测量的原理和方法, 可以加深对CCD工作原理的认识,掌握测量角度的 方法. 1.实验原理 利用线阵CCD测量被测物体角度的方法有很 多,其实质都属于尺寸测量和位移量的测量.常用 的有两种方法. 1.1.第一种方法如图1所示.图中水平粗线为线 阵CCD像敏单元阵列,假设待测物体在CCD像面 上的}贝0量宽度为D,当该物体旋转角度Ot后,CCD感 光线上测量的宽度值也发生了相应变化,变为5. 从图1可以推导出待测角度 Ot=sin(D/S). 测体T —,l, :DN a—\,,r/ / //,『 _}_ D 图lCCD测角方法之一 这种方法比较简单,适用于低精度大尺寸测量, 且光学放大倍数不高的场合,并且必须保证被测物 R B G 图2用彩色线阵CCD的测角原理 体的宽度是已知的.当待测物体本身的宽度尺寸D 有显着变化时,会影响测量精度. 1.2.测量角度的第二种方法是利用彩色线阵CCD 测量物体角度.彩色线阵CCD由3条相互平行的 像敏单元阵列构成,当被测物与线阵CCD像敏单元 阵列成角度Ot时,可以利用彩色线阵CCD两条平行 的阵列传感器进行角度测量. 如图2所示,假设被测物在像面的投影如灰色 部分所示,尺,B,G分别为彩色线阵CCD的尺,B,G 三条像敏单元阵列(阵列传感器).由图中可以看 出,三条阵列传感器对待测物体成像后的边界是相 互错开的,通过对R,G阵列传感器的边界信息提取 测量,便可以测得图中的5.而相邻感光线的间距 为64gm为已知量,则R,G阵列传感器的边界间的 距离L0=128gin. 由此可以推导出待测角度为 Ot=留(T/S) 由于彩色线阵CCD的相邻阵列传感器的距离 加较宽,而同列像元的中心距,11~tl,,因此用这种 方法测角可以获得较高的精度.这种方法测角的角 度分辨率为 otmin=留(1o/Lo) 一 67— /,(LS)2007年第1期IABORATORYSCIENCE2007年2月出版 此外,为使对比度清晰,实验常用黑白相间的镀 膜塑胶片夹作为被测物,其优点是简便,灵活,可成 套使用.如本实验可用两张分别刻划60度与45度 的片夹. 2.实验仪器设备 彩色线阵CCD多功能实验仪一台 双踪迹示波器一台(带宽50MHz以上) 实验用计算机及相关的实验软件一套 3.实验内容 3.1.实验预备 1)首先将实验仪的数据端口和计算机并行端口 通过专用数据电缆连接良好.提前将计算机并行端 口设置为EJpJp(增强型并行接口)工作模式. 2)打开计算机电源,完成系统启动后进入下一 步操作. 3)打开彩色线阵CCD的主电源开关,用示波器 测量CCD各管脚脉冲信号的波形是否正确.如果 与图3所示的波形相符,继续进行下面实验;否则, 应做检查. 4)确认已经正确安装实验仪软件.否则,请首 先安装实验仪软件. — 怖 1卜++I IIII～ …flII_1fII ■ ¨—}I{I】●f 口…qnr_’ ….一I嚣: 一—●…… 图3驱动波形与输出脉冲波形 3.2.角度测量方法之一 1)打开实验仪上盖板将45度测量片夹插入后 端片夹夹具中. 2)运行《角度测量实验》软件,选择工具条上的 算法1按钮,可选择绿色UG为阵列传感器的输出 信号. 3)调节镜头光圈,焦距和积分时间设置等使信 号达到测量要求(接近饱和状态,但不能进入饱和状 态),且要调整好成像物镜,使输出波形尽量陡直,以 便满足测量精度的要求. 一 68— 4)设置阈值为”浮动阈值”方式,数值选为5O. 选择”压缩”显示,数据采集间隔设为Os,设置采集 次数为10次,采集方式为10次采集取平均值. 5)运行测量软件,并将所显示的测量结果(如 图4所示)记录在实验报告中. 图4实验结果的显示 3.3.角度测量方法之二 采用UR,UG作为输出信号进行测量.被测物 用60度片夹代替.选择工具条上的算法2按钮,可 选择两条(UR,UG)作为阵列传感器的输出信号. 实验步骤如同角度测量方法一. 3.4.结束关机 1)关闭实验仪. 2)关闭计算机. 3