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射频产品自动测试系统的校正方法及案例研究 孙秀伟 南京恒电电子有限公司 X 关注成功！ 加关注后您将方便地在 我的关注中得到本文献的被引频次变化的通知！ 新浪微博 腾讯微博 人人网 开心网 豆瓣网 网易微博 摘????要： 基于ATE射频CP测试的校准技术, 通过辅助去嵌结构, 使得在射频产品的CP测试过程中消除测试系统阻抗不匹配带来的测试误差。从而能够获得更准确的测试结果, 最终提高测试良率, 节约测试成本。 关键词： 射频技术; 自动测试; 校正; 作者简介：孙秀伟 (1989-) , 男, 江苏南京人, 本科, 助理工程师, 从事微波射频电路方面的研究。 1 引言 众所周知, 射频信号传输时需要传输线路能完好地阻抗匹配, 这样才能减少信号的反射。但ATE在对CP射频产品进行测试时, 由测试机发送的射频信号会经过测试转接板、探针卡传输到芯片输入端, 在此过程中, 测试机内部的信号源到信号输出端口、转接板以及探针卡上的走线阻抗匹配不理想、转接板与测试机信号输出端口的连接、转接板与探针卡的连接, 探针与芯片引脚 (pad) 的接触均存在寄生的电容电感, 这些必然造成射频信号不能完好的阻抗匹配, 信号在传输过程中发生反射, 最终到达芯片引脚的信号存在功率上的损耗, 以及时序上的延迟等。同样, 射频芯片输出的信号也需经过探针卡以及转接板才能送到测试机进行分析,