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X一射线光谱分析的进展 马光祖 (地矿部岩矿恻试技术研究所,100037) 1.X一射线光谱分析的发展 虽然伦琴在1895年发现了X一射线，但是X射线光谱分析在不少物理学家研究了X一射线的性能，特 点与规律的基础上，于1922年哈定(Hadding)才应用X一射线光谱分析了矿物，后来Coster和Heresy发现 了72号铅Hf,Noddack和Tacke发现了75号徕,1948年以前X一射线光谱分析仅用于原级X一射线光谱 分析，1984年出现了X一射线荧光光谱分析，使X一射线光谱分析得到蓬勃发展，当时主要对分析稀土元素 分量，妮、钮、错、铅等先素的分析发挥了独特作用。由于样品中元素间的基体效应，60年代使它的发展又受 到一定的限制，由于电子计算机和有关科学的发展，使X一射线光谱分析发展为分析元素的范围最广，分析 元素的含量跨度最大，精密度和准确度不断提高的现代分析技术。当今的XRS对各种类型样品的分析已成 为成熟的常规分析方法，它包括以下各种分析方法: 1一1X一射线荧光分析(XRF)中开展了两种有效的分析方法: 1.1.1波长色散X一射线荧光光谱分析(WDXRF)