半导体激光器频率调制系数的测量方法研究.pdf

2003年十。省(市)光学学术会议论文集 半导体激光器频率调制系数的测量方法 张然革 武汉人学IU了信息学院，武汉，430079 摘 要 本文介绍了一种较为简单的测量半导仆激光器(LD)的频率调制系数的方法，并对影响测量精度的几个 环节作r必要的讨论。 1．引 言 LD体积小、重量轻、耗电省、价格低、波K凋制简便，由于其频率稳定性的提高及窄线宽的实现， 在各个行业得到了广泛的应用。LD的输出光频率与注入电流呈线性关系，这一特性为激光器的输出波 长的调制带来了极大的便利，诞生了许多以LD作为光源的干涉测量的新方法。特别是可以利川这…特 性实现干涉图样的稳定…，使得干涉仪在一般的机械震动环境下产生稳定的干涉图样。而影响其特性 发挥的一个重要因素是描述Lo本身特性的调制系数¨1。对LD的调制系数的测量，一般的方法是利川 单色仪及其干涉仪对半导体激光器的输出频率进行动态的测量而实现的，但由于LD的调制系数很小， 因此对测量仪器的精度要求很高。”。也有对LD作正弦调制，通过干涉信号处理的方法得到调制系数的 H1，但测量方法较复杂。本文描述了一种通过LD的注入电流和干涉图样的关系实现测量LD的调制系 数的方法，该方法具有简单、易行的特点。 2．原 理 J t ，’DR l半反半 镜 ’ 半导体激光器的输出光波长与注入电流在其一个单纵模工作区 J 弋 间内成线性关系。可以表达为公式： ／Do D矗 ， l A—Ao+纠 (1) I 乡l参考《 其中艉调制系数。我们构造一个简单的迈克耳孙干涉光路，如图1。 l ， ／。 上 I ，，。 考察干涉场中任意一点的干涉光强。设LD的注入电流为，，两干涉 、 ／ DR 。 臂的物理光路长度差D。则干涉信号可以表示为 ；收屏 √—● 』 《 跗Ⅲofl+cos等D1 ④ 弋 LD 保持两干涉臂的D不变，改变LD的注入电流，则会改变输出波长九， [i 』肌 从而改变干涉光强的余弦项因子，干涉信号相应地做余弦变化。如图 2所示。 图1泰曼一格林干涉光路 显然，每当相位变化刀，即 旦D；一2．rd9+Jr(3) A+△