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第3章——第4节
第四节 测控仪器设计原理 * * 一、平均读数原理:多次读数取其平均值以提高读数精度。 一、平均读数原理 二、比较测量原理 三、补偿原理 以光学分度头为例,当采用单面读数(单个读数头)时,由于轴系晃动或度盘安装偏心等原因,不可避免地将使仪器带来读数误差。 图3-22 度盘安装偏心示意图 式中,e-安装偏心,R-度盘刻划半径。 参见P35 问题的解决:采用平均读数原理。 在度盘的对径方向上安装两个读数头,并取两个读数头读数值的平均值作为度盘在这一转角位置上的读数值。 这样,如果对读数头I来说度盘安装偏心或轴系晃动带来的读数误差为+Δθ的话,则对读数头II来说,其读数误差为- Δθ 。读数取其平均值=[(θ+Δθ)+(θ-Δθ)]/2=θ 因此,当存在着度盘安装偏心或轴系晃动误差时,对径读数取它们的平均值,则可自动消除读数误差。 +Δθ -Δθ 图3-23 测角仪对径读数结构 1-照明光源 2-聚光镜 3-度盘 4、9、13-直角棱镜 5、11-物镜 6-梯形棱镜 7、8-光楔测微器 10-合像分界楔 12-秒尺 14-投影物镜 15、16、17-反射镜 18-投影屏 JCY精密测角仪: 在0°和180°刻线处分别安装照明及成像系统。两个光路在分界楔10上复合成像后,最终成像在投影屏18上。由于两路光束的光程一样,所以在视场中看到的对径盘刻度线的成像的清晰度与颜色深浅度相同。当度盘3转动时,视场中看到的上下两排像相对移动。读数时转动测微器,使对径刻线像上下对齐,其读数就是对径的平均值。 书P85 结论:多读数头结构平均读数原理,在消除轴系晃动、度盘安装偏心及度盘刻划误差等对读数精度的影响方面具有良好的效果。因此,平均读数原理已成为高精密圆分度测量装置中一条重要设计原理,而为量仪设计所普遍重视和共同遵循。 另外,在仪器设计中,除了平均读数原理之外,平均原理和平均误差效应的应用也相当广泛。 例子: ①光栅的莫尔条纹有误差平均作用; ②多齿分度盘整周啮合对每一个齿的制造误差由平均作用; ③多次采样和多次读数取平均值可以减小随机误差的影响。 二、比较测量原理 (一)位移量同步比较测量原理 位移量同步比较原理主要应用于复合参数的测量:渐开线齿形误差,齿轮切向综合误差,螺旋线误差,凸轮型面误差的测量。 ?特点:这类复合参数一般都是由线位移和角位移,或角位移和角位移以一定关系作相互运动而成。它们的测量过程,实际上是相应的位移量之间的同步比较过程,故在设计这类参数的测量仪器中,形成了一种位移量同步比较的测量原理。这一原理的特点是符合按被测参数定义进行测量的基本原则。 ?过去的方法:采用建立相应的机械的标准运动,然后与被测运动相比较的方法,其结果是结构复杂,环节多,测量链长,工艺难度大,特别当要求仪器具有较大通用性时,问题更为突出。 ?近期的方法:由于激光、光栅、电子和微机技术的发展,使位移量同步比较由机械式向电子式发展,由于这种发展,使位移量同步比较原理在仪器设计中获得了新的广泛前景。因此,测量时由非同步比较变为了同步比较的过程。 图3-24 万能齿轮整体误差测量机原理图 1—圆光栅盘 2—切向滑板 3—长光栅尺 4—光栅头 5—刚性测头 6—被测齿轮 7—光栅头 图3-24是采用电子式位移量同步比较原理所设计的万能齿轮整体误差测量机的原理图。 位移量同步比较测量原理:对复合参数进行测量时先分别用激光装置或光栅装置等测出它们各自单参数的位移量,然后再根据它们之间存在的特定关系由计算机系统给出准确值,直接与测量值进行运算比较而实现测量。 书P88 第1齿测量:先将刚性点触头5调至被测齿轮基圆的切线位置上,并与被测齿轮的齿面接触。测量时,由齿轮顺时针转动带动触头沿渐开线法线移动进行测量。第2齿测量开始前,齿轮继续旋转,触头停止移动并在第1齿齿顶圆上滑过。触头滑过齿顶圆后,在测力机构作用下,进入齿轮啮合位置中并与第2齿齿面接触。此时齿轮反转,触头沿基圆切线随第2齿齿面继续返回移动,直至触头返回至被测齿轮基圆的切线位置上,并与被测齿轮的齿面接触时齿轮开始正转,开始第二齿的测量。 逐齿循环上述正反转测量过程,直至测量完截面所有各齿。在测量过程中,与齿轮一起转动的圆光栅发出θ与φ脉冲信号(θ为被测齿的实际分度角,φ为齿轮实际测量展开角),与测头一起移动的长光栅发出ρi和n脉冲信号( ρi为与φ相对应的展开线长度,n为采样点序号)。两路信号同时送入计算机,按仪器测量原理所规定的程序进行计算,显示及自动画出齿轮的截面整体误差曲线。 角度量:由圆光栅测定 长度量:由长光栅测定 计算:
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